機遇與挑戰：

• 電子測試測量廠商越來越重視產品在科研教育領域的應用
• 中國電子產業相比電子強國還有一定差距，未來的發展空間巨大

吉時利公司市場定位在高精度儀器和需要對電壓、電阻、電流、電(dian)容(rong)和(he)電(dian)荷(he)進(jin)行(xing)精(jing)細(xi)測(ce)量(liang)的(de)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)產(chan)品(pin)
，以(yi)及(ji)為(wei)大(da)規(gui)模(mo)生(sheng)產(chan)和(he)組(zu)裝(zhuang)測(ce)試(shi)提(ti)供(gong)完(wan)整(zheng)係(xi)統(tong)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)。憑(ping)借(jie)應(ying)用(yong)於(yu)科(ke)學(xue)研(yan)究(jiu)的(de)電(dian)子(zi)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)領(ling)域(yu)的(de)技(ji)術(shu)優(you)勢(shi)，同(tong)時(shi)通(tong)過(guo)與(yu)全(quan)球(qiu)通(tong)信(xin)
、半(ban)導(dao)體(ti)和(he)元(yuan)器(qi)件(jian)製(zhi)造(zao)等(deng)不(bu)斷(duan)革(ge)新(xin)的(de)行(xing)業(ye)中(zhong)領(ling)先(xian)的(de)廠(chang)商(shang)廣(guang)泛(fan)而(er)緊(jin)密(mi)的(de)合(he)作(zuo)，吉(ji)時(shi)利(li)在(zai)這(zhe)些(xie)行(xing)業(ye)的(de)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)方(fang)麵(mian)取(qu)得(de)了(le)令(ling)人(ren)矚(zhu)目(mu)的(de)成(cheng)就(jiu)。西(xi)部(bu)大(da)開(kai)發(fa)戰(zhan)略(lve)以(yi)及(ji)軍(jun)工(gong)等(deng)傳(chuan)統(tong)行(xing)業(ye)產(chan)業(ye)升(sheng)級(ji)，為(wei)電(dian)子(zi)信(xin)息(xi)技(ji)術(shu)企(qi)業(ye)帶(dai)來(lai)巨(ju)大(da)的(de)機(ji)遇(yu)和(he)挑(tiao)戰(zhan)。跨(kua)國(guo)高(gao)技(ji)術(shu)公(gong)司(si)的(de)國(guo)際(ji)視(shi)野(ye)和(he)敏(min)銳(rui)目(mu)光(guang)使(shi)得(de)吉(ji)時(shi)利(li)公(gong)司(si)立(li)即(ji)鎖(suo)定(ding)了(le)今(jin)年(nian)的(de)第(di)76屆中國（成都）電(dian)子(zi)展(zhan)

，公(gong)司(si)攜(xie)係(xi)列(lie)高(gao)精(jing)度(du)微(wei)弱(ruo)信(xin)號(hao)測(ce)試(shi)產(chan)品(pin)亮(liang)相(xiang)電(dian)子(zi)展(zhan)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)展(zhan)區(qu)。西(xi)南(nan)地(di)區(qu)客(ke)戶(hu)可(ke)以(yi)近(jin)距(ju)離(li)地(di)與(yu)吉(ji)時(shi)利(li)的(de)專(zhuan)業(ye)技(ji)術(shu)人(ren)員(yuan)進(jin)行(xing)麵(mian)對(dui)麵(mian)的(de)交(jiao)流(liu)，更(geng)多(duo)地(di)了(le)解(jie)吉(ji)時(shi)利(li)的(de)先(xian)進(jin)技(ji)術(shu)和(he)經(jing)典(dian)應(ying)用(yong)。

在zai半ban導dao體ti和he電dian子zi元yuan件jian生sheng產chan製zhi造zao工gong業ye中zhong，用yong戶hu對dui於yu提ti高gao測ce試shi效xiao率lv和he產chan能neng的de需xu求qiu達da到dao了le前qian所suo未wei有you的de水shui平ping。快kuai速su變bian更geng的de技ji術shu對dui測ce試shi的de複fu雜za性xing和he速su度du提ti出chu了le更geng高gao需xu求qiu，目mu的de是shi增zeng強qiang產chan品pin可ke靠kao性xing
，縮suo短duan產chan品pin上shang市shi時shi間jian。吉ji時shi利li的de測ce試shi係xi統tong具ju有you很hen高gao的de測ce量liang精jing度du
、速度及效率，能有效提高用戶的產能，降低測試成本，為半導體工廠
、實驗室節省大筆開銷，同時還可以簡化高性能測量的過程。例如2600A係列數字源表（圖1）是吉時利最新的I-V源測量儀器
，既可以用作桌麵級I-V特征分析工具也可以成為多通道I-V測試係統的組成部分。對於係統級應用，2600A的測試腳本處理器（TSP）架構結合其它一些新功能，如並行測試和精確時序，極大地提高了用戶的測試產能。對於台式應用，2600A係列可提供內置的TSP Express軟件或ACS基礎版元件特征分析工具。

圖1 2600A係列數字源表SourceMeter-多通道I-V測試方案
 

針對半導體行業不斷變化的新材料
、新工藝和新結構，吉時利基於其半導體參數測試係統

，不斷推出新的升級選件和模塊，以滿足不斷發展的市場需求。如4200-SCS型半導體特性分析係統推出4225-PMU超快I-V測試模塊（圖2），實現了極寬的電壓、電流和上升/下降/脈衝時間動態量程
，提高了係統對新材料、器(qi)件(jian)和(he)工(gong)藝(yi)進(jin)行(xing)特(te)征(zheng)分(fen)析(xi)的(de)能(neng)力(li)。針(zhen)對(dui)人(ren)們(men)對(dui)可(ke)替(ti)代(dai)能(neng)源(yuan)技(ji)術(shu)越(yue)來(lai)越(yue)感(gan)興(xing)趣(qu)以(yi)及(ji)政(zheng)府(fu)支(zhi)持(chi)力(li)度(du)越(yue)來(lai)越(yue)大(da)的(de)情(qing)況(kuang)，吉(ji)時(shi)利(li)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)交(jiao)互(hu)式(shi)軟(ruan)件(jian)KTEI V7.2 新增了測試庫
，增強了4200-SCS 進行太陽能電池 I-V、C-V 和電阻測試的功能，並支持最新的太陽能電池測試技術 DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling
，激勵電平電容壓型）。

圖2  4200-SCS型半導體特性分析係統和最新4225-PMU超快I-V/脈衝模塊
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電(dian)子(zi)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)以(yi)逐(zhu)年(nian)增(zeng)長(chang)的(de)比(bi)例(li)占(zhan)據(ju)教(jiao)育(yu)研(yan)究(jiu)領(ling)域(yu)
，電(dian)子(zi)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)廠(chang)商(shang)越(yue)來(lai)越(yue)重(zhong)視(shi)產(chan)品(pin)在(zai)科(ke)研(yan)教(jiao)育(yu)領(ling)域(yu)的(de)應(ying)用(yong)。隨(sui)著(zhe)新(xin)材(cai)料(liao)和(he)新(xin)技(ji)術(shu)的(de)不(bu)斷(duan)發(fa)展(zhan)變(bian)化(hua)，對(dui)超(chao)導(dao)性(xing)、金屬、高分子材料、絕緣體和半導體的研究需要更加科學先進和不斷變化的測試方案，以此進行高精確度的精細測量。隨著納米材料、納米元器件在生物技術、分子電子學、新(xin)能(neng)源(yuan)及(ji)其(qi)他(ta)領(ling)域(yu)的(de)應(ying)用(yong)越(yue)來(lai)越(yue)廣(guang)泛(fan)，對(dui)於(yu)測(ce)量(liang)與(yu)納(na)米(mi)器(qi)件(jian)和(he)材(cai)料(liao)相(xiang)關(guan)的(de)極(ji)小(xiao)電(dian)信(xin)號(hao)的(de)靈(ling)敏(min)度(du)要(yao)求(qiu)也(ye)越(yue)來(lai)越(yue)高(gao)。吉(ji)時(shi)利(li)一(yi)直(zhi)專(zhuan)注(zhu)於(yu)研(yan)發(fa)和(he)教(jiao)育(yu)領(ling)域(yu)，通(tong)過(guo)提(ti)供(gong)新(xin)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)、儀器和係統支持尖端科技的發展，解決教育科研領域的測量難題。

LED是近年來全球最具發展前景的高技術領域之一
，最新發光二極管（LED）的設計比幾年前的產品亮度更高、色彩更豐富、壽命更長
，因此，對測試方法也提出了更高的要求。吉時利2600A係列數字源表與2400係列數字源表均可以成為靈活的LED測試選擇。在光電行業的應用中，吉時利還可提供多種測量儀器

，包括板卡
、微弱信號測量儀器、數字源表和專業的光電測量產品。

針對新型便攜式設備的迅猛發展，吉時利2308型便攜式設備電池/充電器仿真器是一種雙通道電池/充電器仿真電源，能最大限度地降低采用新型複雜發射機製的移動電話和其他功耗極低的新型便攜式設備的測試成本。

展會上吉時利將主要展示半導體參數測試產品
、微弱信號測試和源產品、數字源表，同時還展出了麵向通用測試領域的性價比極高的數字萬用表。

目前，中國電子產業相比電子強國還有一定差距
，未來的發展空間巨大，國家政策重點鼓勵的節能減排、太陽能電池生產設備、光伏發電市場發展
、3G為代表的無線通訊、智能手機、汽車電子
、工業電子、LED等都將會是未來電子產業發展的熱點。西部大開發在我國區域協調發展總體戰略中居於優先地位，當前西部裝備製造、軍(jun)工(gong)等(deng)傳(chuan)統(tong)行(xing)業(ye)正(zheng)麵(mian)臨(lin)產(chan)業(ye)升(sheng)級(ji)的(de)挑(tiao)戰(zhan)與(yu)機(ji)遇(yu)
，信(xin)息(xi)化(hua)與(yu)工(gong)業(ye)化(hua)融(rong)合(he)的(de)趨(qu)勢(shi)將(jiang)給(gei)電(dian)子(zi)信(xin)息(xi)技(ji)術(shu)行(xing)業(ye)提(ti)供(gong)巨(ju)大(da)的(de)潛(qian)在(zai)市(shi)場(chang)。吉(ji)時(shi)利(li)公(gong)司(si)市(shi)場(chang)部(bu)負(fu)責(ze)人(ren)表(biao)示(shi)
，西(xi)部(bu)大(da)開(kai)發(fa)對(dui)吉(ji)時(shi)利(li)是(shi)一(yi)個(ge)難(nan)得(de)的(de)機(ji)遇(yu)，希(xi)望(wang)借(jie)助(zhu)本(ben)屆(jie)電(dian)子(zi)展(zhan)，向(xiang)客(ke)戶(hu)展(zhan)示(shi)吉(ji)時(shi)利(li)公(gong)司(si)的(de)主(zhu)要(yao)優(you)勢(shi)產(chan)品(pin)並(bing)推(tui)介(jie)最(zui)新(xin)產(chan)品(pin)，同(tong)時(shi)可(ke)以(yi)麵(mian)對(dui)麵(mian)地(di)與(yu)客(ke)戶(hu)交(jiao)流(liu)，了(le)解(jie)客(ke)戶(hu)的(de)真(zhen)實(shi)需(xu)求(qiu)和(he)建(jian)議(yi)，更(geng)好(hao)地(di)服(fu)務(wu)客(ke)戶(hu)。