最直觀的結構觀察：掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)

 

1. 掃描電鏡（SEM）

 

由you於yu電dian池chi材cai料liao的de觀guan察cha尺chi度du在zai亞ya微wei米mi即ji幾ji百bai納na米mi到dao幾ji微wei米mi的de範fan圍wei，普pu通tong光guang學xue顯xian微wei鏡jing無wu法fa滿man足zu觀guan察cha的de需xu求qiu，而er更geng高gao放fang大da倍bei數shu的de電dian子zi顯xian微wei鏡jing則ze經jing常chang被bei用yong來lai觀guan察cha電dian池chi材cai料liao。

 

掃描電子顯微鏡（SEM）是1965nianfamingdejiaoxiandaidexibaoshengwuxueyanjiugongju
，zhuyaoshiliyongercidianzixinhaochengxianglaiguanchayangpindebiaomianxingtai
，jiyongjixiazhaidedianzishuqusaomiaoyangpin

，tongguodianzishuyuyangpindexianghuzuoyongchanshenggezhongxiaoying，qizhongzhuyaoshiyangpindeercidianzifashe。saomiaodianzixianweijingkeyiguanchadaolidiancailiaodelijingdaxiaohejunyunchengdu，yijinamicailiaozishendeteshuxingmao，shenzhitongguoguanchacailiaozaixunhuanguochengzhongfashengdexingbianwomenkeyipanduanqiduiyingdexunhuanbaochinenglihaohuai。rutu1b所示，二氧化鈦纖維具有的特殊網狀結構能提供良好的電化學性能。

 

 

圖1：（a）掃描電鏡(SEM)的結構原理圖
；（b）SEM測試得到的圖片（TiO2的納米線）

 

1.1 SEM掃描電鏡原理：

 

如圖1a所示
，SEM是利用電子束轟擊樣品表麵，引起二次電子等信號的發射，主要利用SE並放大、傳遞SE所攜帶的信息，按時間序列逐點成像
，顯像管上成像。

 

1.2 掃描電鏡的特點：

 

⑴ 圖象立體感強、可觀察一定厚度的樣

 

⑵ 樣品製備簡單
，可觀察較大的樣

 

⑶ 分辨率較高

，30~40Å  

 

⑷ 倍率連續可變，從4倍~~15萬

 

⑸ 可配附件，進行微區的定量、定性分析

 

1.3 觀察對象：

 

粉末、顆粒
、塊狀材料都可以測試

，測試前除保持幹燥外
，不需要特殊處理。主要用於觀察樣品的表麵形貌、割裂麵結構
、管腔內表麵的結構等。可直觀反應材料的粒徑尺寸特殊結構及分布情況。

 

2. TEM透射電子顯微鏡

 

圖2：（a）TEM 透射電鏡的結構原理圖；（b）TEM測試照片（Co3O4納米片）

 

2.1 原理： 主要利用入射電子束穿過樣品，產生攜帶樣品橫截麵內部的電子信號，並經多級磁透鏡的放大後成像於熒光板，整幅像同時成立。

 

2.2 特點：

 

⑴ 樣品超薄
，h<1000 Å

 

⑵ 二維平麵像，立體感差

 

⑶ 分辨率高
，優於2 Å

 

⑷ 樣品製備複雜

 

2.3 觀察對象：

 

在溶液中分散的納米級材料，使用前需要滴在銅網上，提前製備並保持幹燥。主要觀察樣品內部超微結構，HRTEM高分辨透射電鏡可以觀察到材料對應的晶格和晶麵。如圖2b所示
，觀察二維平麵結構具有更好的效果
，相對於SEM的立體感差，但可以具有更高的分辨率，觀察到更細微的部分，
，特殊的HRTEM甚至可以觀察到材料的晶麵和晶格等信息。

 

3. 材料晶體結構測試：（XRD）X射線衍射儀技術

 

X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成
、晶型
、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品
、無汙染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。

 

圖3：（a）鋰電材料的XRD光譜；（b）X射線衍射儀的原理結構圖

 

3.1 XRD原理：Xshexianyanshezuoweiyidiancibotoushedaojingtizhongshi，huishoudaojingtizhongyuanzidesanshe，ersanshebojiuxiangcongyuanzizhongxinfachu，meigeyuanzizhongxinfachudesansheboleisiyuyuanqiumianbo。youyuyuanzizaijingtizhongshizhouqipailiede

，zhexiesansheqiubozhijiancunzaigudingdexiangweiguanxi，huidaozhizaimouxiesanshefangxiangdeqiumianboxianghujiaqiang，erzaimouxiefangxiangshangxianghudixiao，congerchuxianyanshexianxiang。meizhongjingtineibudeyuanzipailiefangshishiweiyide
，yinciduiyingdeyanshehuayangshiweiyide

，leisiyurendezhiwen，yincikeyijinxingwuxiangfenxi。qizhong

，yanshehuayangzhongyanshexiandefenbuguilvshiyoujingbaodedaxiao、形狀和位向決定。衍射線的強度是由原子的種類和它們在晶胞中的位置決定。通過布拉格方程：2dsinθ=nλ
，我們可以獲得不同材料通過使用固定靶材激發的X射線在特殊θ角位置產生特征信號
，即PDF卡片上標注的特征峰。

 

3.2 XRD測試特點：

 

XRD衍射儀的適用性很廣
，通常用於測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料
，並擁有檢測快速、操作簡單

、數據處理方便等優點
， 是一個標標準準的“良心產品”。不僅僅可用於檢測鋰電材料，大部分晶體材料都可以采用XRD測試其特定的晶型。圖3a為鋰電材料Co3O4所對應的XRD光譜
，圖上根據對應的PDF卡片標注了該材料的晶麵信息。該圖黑色對應塊體材料結晶峰窄且高度明顯
，說明其結晶性很好。

 

3.3 測試對象及樣品準備要求：

 

粉末樣品或表麵平整的塊狀樣品。粉末樣品要求磨勻，樣品表麵要鋪平
，減小測量樣品的應力影響。

 

4. 電化學性能（CV）循環伏安法和循環充放電

 

鋰電池材料屬於電化學範圍，因而對應的一係列電化學測試必不可少。

 

CV測試: yizhongchangyongdedianhuaxueyanjiufangfa。gaifakongzhidianjidianshiyibutongdesulv
，suishijianyisanjiaoboxingyicihuoduocifanfusaomiao
，dianshifanweishishidianjishangnengjiaotifashengbutongdehaiyuanheyanghuafanying，bingjiludianliu-電勢曲線。根據曲線形狀可以判斷電極反應的可逆程度
，中間體、相(xiang)界(jie)吸(xi)附(fu)或(huo)新(xin)相(xiang)形(xing)成(cheng)的(de)可(ke)能(neng)性(xing)
，以(yi)及(ji)偶(ou)聯(lian)化(hua)學(xue)反(fan)應(ying)的(de)性(xing)質(zhi)等(deng)。常(chang)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)電(dian)極(ji)反(fan)應(ying)參(can)數(shu)
，判(pan)斷(duan)其(qi)控(kong)製(zhi)步(bu)驟(zhou)和(he)反(fan)應(ying)機(ji)理(li)
，並(bing)觀(guan)察(cha)整(zheng)個(ge)電(dian)勢(shi)掃(sao)描(miao)範(fan)圍(wei)內(nei)可(ke)發(fa)生(sheng)哪(na)些(xie)反(fan)應(ying)，及(ji)其(qi)性(xing)質(zhi)如(ru)何(he)。對(dui)於(yu)一(yi)個(ge)新(xin)的(de)電(dian)化(hua)學(xue)體(ti)係(xi)，首(shou)選(xuan)的(de)研(yan)究(jiu)方(fang)法(fa)往(wang)往(wang)就(jiu)是(shi)循(xun)環(huan)伏(fu)安(an)法(fa)，可(ke)稱(cheng)之(zhi)為(wei)“電化學的譜圖”。本法除了使用汞電極外，還可以用鉑
、金、玻璃碳、碳纖維微電極以及化學修飾電極等。

 

循環伏安法是一種很有用的電化學研究方法，可用於電極反應的性質、jilihedianjiguochengdonglixuecanshudeyanjiu。duiyuyigexindedianhuaxuetixi
，shouxuandeyanjiufangfawangwangshixunhuanfuanfa。youyushouyingxiangyinsujiaoduo
，gaifayibanyongyudingxingfenxi，henshaoyongyudingliangfenxi。

 

圖4：（a）可逆電極的CV循環圖；（b）電池的恒電流循環充放電測試

 

恒電流循環充放電測試：鋰(li)電(dian)材(cai)料(liao)組(zu)裝(zhuang)成(cheng)相(xiang)應(ying)的(de)電(dian)池(chi)之(zhi)後(hou)
，需(xu)要(yao)進(jin)行(xing)充(chong)放(fang)電(dian)進(jin)行(xing)循(xun)環(huan)性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)。充(chong)放(fang)電(dian)過(guo)程(cheng)經(jing)常(chang)采(cai)用(yong)恒(heng)電(dian)流(liu)充(chong)放(fang)電(dian)的(de)方(fang)式(shi)

，以(yi)固(gu)定(ding)電(dian)流(liu)密(mi)度(du)進(jin)行(xing)放(fang)電(dian)和(he)充(chong)電(dian)
，限(xian)製(zhi)電(dian)壓(ya)或(huo)比(bi)容(rong)量(liang)的(de)條(tiao)件(jian)，進(jin)行(xing)循(xun)環(huan)測(ce)試(shi)。實(shi)驗(yan)室(shi)常(chang)用(yong)的(de)有(you)武(wu)漢(han)藍(lan)電(dian)和(he)深(shen)圳(zhen)新(xin)威(wei)兩(liang)種(zhong)測(ce)試(shi)儀(yi)，設(she)置(zhi)簡(jian)單(dan)的(de)程(cheng)序(xu)後(hou)
，即(ji)可(ke)測(ce)試(shi)電(dian)池(chi)的(de)循(xun)環(huan)性(xing)能(neng)。圖(tu)4b為一組鋰電材料組裝電池後的循環圖，我們可以看到黑色bulk材料對應可以循環60圈
，紅色NS材料可循環超過150圈。

 

小結：鋰電池材料的測試技術有很多
，最為常見的有上述的SEM，TEM

，XRD，CV和循環測試等。另外還有拉曼光譜（Raman），紅外光譜（FTIR），X射線光電子能譜（XPS）
，以及電鏡附件部分的能譜分析（EDS），電子能量損失譜（EELS），判斷材料粒度及孔隙率的BET比表麵積測試法。甚至有些時候還能用到中子衍射和吸收譜（XAFS）等表征手段。

 

近30年(nian)時(shi)間(jian)內(nei)，鋰(li)電(dian)池(chi)行(xing)業(ye)迅(xun)速(su)發(fa)展(zhan)並(bing)要(yao)逐(zhu)步(bu)替(ti)代(dai)煤(mei)炭(tan)和(he)石(shi)油(you)等(deng)傳(chuan)統(tong)燃(ran)料(liao)應(ying)用(yong)於(yu)汽(qi)車(che)等(deng)動(dong)力(li)設(she)備(bei)，而(er)隨(sui)之(zhi)發(fa)展(zhan)的(de)表(biao)征(zheng)檢(jian)測(ce)手(shou)段(duan)也(ye)不(bu)斷(duan)的(de)完(wan)善(shan)和(he)促(cu)進(jin)著(zhe)鋰(li)電(dian)池(chi)領(ling)域(yu)的(de)進(jin)步(bu)。

 

 

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