數字隔離器的安全可靠性
發布時間:2020-07-09 來源:David Krakauer 責任編輯:wenwei
【導讀】一方麵,設計工程師不想在係統中增加電流隔離;另ling一yi方fang麵mian,為wei了le滿man足zu國guo內nei或huo國guo際ji安an全quan法fa規gui要yao求qiu,他ta們men不bu得de不bu這zhe樣yang做zuo。增zeng加jia電dian流liu隔ge離li的de弊bi端duan是shi隔ge離li直zhi接jie放fang在zai數shu據ju路lu徑jing中zhong,會hui導dao致zhi延yan遲chi並bing使shi係xi統tong變bian慢man。此ci外wai還hai會hui增zeng加jia功gong耗hao、尺寸和成本。這些折中令人遺憾。多年來,設計工程師使用光耦合器,勉強應對這些缺點,但一種新型電流隔離器——數字隔離器已經上市,緩解了這些不利影響。利用數字隔離器可以實現尺寸更小、能效更高、更具性價比、性能更高的設計。然而,安全標準並未同步跟進,給數字隔離器帶來了困惑和不確定性:它們是否像電流隔離一樣安全?它們是否滿足安全法規要求?
答案是肯定的:shuzigeliqinenggoumanzuguoneiheguojibiaozhundeanquanyaoqiu。danshi,daduoshugongyingshangtigongdeguangouheqijuyouxiangsidejiegou,shuzigeliqizeburan,butonggongyingshangyibutongfangshishejihezhizaoshuzigeliqi,yinergelinenglibujinxiangtong,tebieshiyuguangouheqiqiangjiandegelinenglixiangbijiaoshi。yinci,bingfeisuoyoushuzigeliqijishuheshixianfangandounengtigongtongyangdeanquanxing。
隔離器有四個主要考慮因素:
● 絕緣材料
● 隔離元件
● 數據傳輸架構
● 封裝
meigeyaosudoucunzaibutongdexuanze,zuizhongzuhejuedinggeliqidenengli。benwenjiangjujiaoyujueyuancailiao,tashijuedinganquanxinggaodidezhuyaoyinsu。guangouheqishiyonggezhongjuhewucailiao,baokuofengzhuangdehuanyangshuzhisufengcailiao。shuzigeliqishiyongleisidejuhewuhuojuxianyaancailiao,yekeyishiyongeryanghuagui。gelishouminghezuigaonaishoudianyadebutongqujueyucailiaohezhizaogongyi。womenxiankaolvanquanbiaozhunyijitamenyubutongleixinggeliqideguanxi。
了解隔離要求:標(biao)準(zhun)的(de)複(fu)雜(za)性(xing)係(xi)統(tong)級(ji)標(biao)準(zhun)旨(zhi)在(zai)處(chu)理(li)環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)與(yu)係(xi)統(tong)使(shi)用(yong)條(tiao)件(jian)的(de)差(cha)異(yi)。例(li)如(ru),家(jia)用(yong)電(dian)器(qi)的(de)要(yao)求(qiu)不(bu)同(tong)於(yu)醫(yi)院(yuan)用(yong)病(bing)人(ren)監(jian)護(hu)儀(yi)或(huo)工(gong)廠(chang)中(zhong)電(dian)機(ji)驅(qu)動(dong)器(qi)的(de)要(yao)求(qiu)。它(ta)們(men)常(chang)常(chang)通(tong)過(guo)引(yin)用(yong)電(dian)流(liu)隔(ge)離(li)器(qi)特(te)定(ding)的(de)器(qi)件(jian)級(ji)標(biao)準(zhun)來(lai)說(shuo)明(ming)隔(ge)離(li)安(an)全(quan)性(xing)。有(you)三(san)種(zhong)標(biao)準(zhun)值(zhi)得(de)注(zhu)意(yi):
● IEC 60747:半導體器件——第1部分:通則
● UL 1577:光學隔離器標準
● VDE 0884-10:半導體器件——用於安全隔離的磁性耦合器和容性耦合器
雖然各種標準的目標相似,即確保用戶、操作員和設備的安全性,但采用的方法不同。IEC 60747區分了隔離等級(例如基本絕緣與增強絕緣),UL 1577則注重隔離器在一定時間內(通常是1分鍾)耐受某一電壓水平的能力。為了適應所有可能的使用情形和條件,係統設計師常常需要獲得多種器件級標準的認證。
數shu字zi隔ge離li器qi的de興xing起qi使shi問wen題ti更geng加jia複fu雜za,因yin為wei許xu多duo此ci類lei標biao準zhun是shi在zai設she計ji師shi隻zhi有you光guang耦ou合he器qi可ke用yong時shi製zhi定ding的de。這zhe些xie標biao準zhun緊jin盯ding與yu光guang耦ou合he器qi相xiang關guan的de弱ruo點dian,提ti供gong了le保bao證zheng安an全quan性xing的de途tu徑jing。
對dui於yu光guang耦ou合he器qi,這zhe些xie方fang法fa非fei常chang有you效xiao,但dan可ke能neng不bu適shi用yong於yu數shu字zi隔ge離li器qi。以yi認ren證zheng工gong作zuo電dian壓ya為wei例li,它ta是shi連lian續xu施shi加jia於yu隔ge離li柵zha的de電dian壓ya。具ju有you認ren證zheng工gong作zuo電dian壓ya的de隔ge離li器qi應ying能neng終zhong身shen耐nai受shou該gai電dian壓ya。IEC 60747要(yao)求(qiu)通(tong)過(guo)生(sheng)產(chan)部(bu)分(fen)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)來(lai)驗(yan)證(zheng)光(guang)耦(ou)合(he)器(qi)的(de)工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)。標(biao)準(zhun)機(ji)構(gou)已(yi)經(jing)認(ren)定(ding),部(bu)分(fen)放(fang)電(dian)起(qi)始(shi)電(dian)壓(ya)和(he)誘(you)感(gan)電(dian)壓(ya)與(yu)光(guang)耦(ou)合(he)器(qi)的(de)工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)相(xiang)關(guan)。製(zhi)造(zao)工(gong)藝(yi)使(shi)用(yong)注(zhu)塑(su)方(fang)法(fa),容(rong)易(yi)在(zai)塑(su)料(liao)內(nei)部(bu)產(chan)生(sheng)空(kong)洞(dong)。在(zai)壓(ya)力(li)下(xia),此(ci)類(lei)空(kong)洞(dong)可(ke)經(jing)曆(li)更(geng)高(gao)的(de)電(dian)場(chang),導(dao)致(zhi)部(bu)分(fen)放(fang)電(dian)引(yin)起(qi)的(de)性(xing)能(neng)降(jiang)低(di)。在(zai)高(gao)壓(ya)下(xia)進(jin)行(xing)部(bu)分(fen)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)可(ke)以(yi)檢(jian)測(ce)是(shi)否(fou)存(cun)在(zai)空(kong)洞(dong),發(fa)現(xian)在(zai)現(xian)場(chang)應(ying)用(yong)中(zhong)會(hui)失(shi)效(xiao)的(de)次(ci)品(pin)。
這zhe種zhong部bu分fen放fang電dian方fang法fa並bing不bu完wan全quan適shi用yong於yu數shu字zi隔ge離li器qi。數shu字zi隔ge離li器qi確que實shi使shi用yong類lei似si的de封feng裝zhuang材cai料liao,必bi須xu利li用yong部bu分fen放fang電dian進jin行xing測ce試shi以yi判pan斷duan有you無wu缺que陷xian,但dan還hai有you其qi他ta老lao化hua機ji製zhi與yu絕jue緣yuan材cai料liao相xiang關guan。隔ge離li元yuan件jian使shi用yong的de主zhu要yao隔ge離li材cai料liao是shi通tong過guo嚴yan密mi控kong製zhi的de晶jing圓yuan級ji工gong藝yi沉chen積ji而er成cheng,不bu大da可ke能neng產chan生sheng空kong洞dong,因yin而er受shou部bu分fen放fang電dian的de影ying響xiang較jiao小xiao,但dan其qi他ta老lao化hua機ji製zhi開kai始shi占zhan主zhu導dao地di位wei。數shu字zi隔ge離li器qi聲sheng稱cheng的de特te定ding工gong作zuo電dian壓ya(通常表示為VIORM,依據IEC 60747)可能會造成誤解,因為它僅反映在給定電壓下通過部分放電測試的能力。
由於部分放電對於數字隔離器工作電壓是不完整的測試,因此需要其他測試和表征。IECdeweilaibiaozhunjiangjiejuezheyiwentibingyinruxindefangfa。zaiguoduqijian,shuzigeliqigongyingshangyouyiwuzhengmingtamenruhebaozhengqijianzaiedinggongzuodianyaxianenggouzhongshenzhengchanggongzuo。
測量iCoupler數字隔離器的高壓壽命
ADI公司通過部分放電以外的測試保證iCoupler?數字隔離器的工作電壓。iCoupler數字隔離器在平麵變壓器線圈之間使用20 μm厚聚酰亞胺絕緣層,這是晶圓製造工藝的一部分(見下圖)。這(zhe)種(zhong)製(zhi)造(zao)工(gong)藝(yi)能(neng)以(yi)低(di)成(cheng)本(ben)將(jiang)隔(ge)離(li)元(yuan)件(jian)與(yu)任(ren)何(he)晶(jing)圓(yuan)半(ban)導(dao)體(ti)工(gong)藝(yi)集(ji)成(cheng),實(shi)現(xian)出(chu)色(se)的(de)質(zhi)量(liang)和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)。下(xia)麵(mian)的(de)剖(pou)麵(mian)圖(tu)顯(xian)示(shi)了(le)被(bei)厚(hou)聚(ju)酰(xian)亞(ya)胺(an)層(ceng)分(fen)開(kai)的(de)頂(ding)部(bu)和(he)底(di)部(bu)線(xian)圈(quan)的(de)匝(za)數(shu)。聚(ju)酰(xian)亞(ya)胺(an)材(cai)料(liao)用(yong)於(yu)絕(jue)緣(yuan)已(yi)有(you)多(duo)年(nian)的(de)曆(li)史(shi)。過(guo)去(qu)十(shi)多(duo)年(nian)來(lai),已(yi)有(you)近(jin)10億隻iCoupler變壓器投入使用。

為了測量這些芯片級隔離變壓器的工作電壓壽命,我們采用高壓耐受性(HVE)設置。HVE是在更高電壓水平(通常遠高於額定工作電壓)下通過失效時間實驗完成的。電荷注入是導致器件隔離擊穿的主要HVE失(shi)效(xiao)機(ji)製(zhi)。電(dian)荷(he)注(zhu)入(ru)聚(ju)酰(xian)亞(ya)胺(an)絕(jue)緣(yuan)層(ceng)後(hou),可(ke)能(neng)會(hui)被(bei)限(xian)製(zhi)在(zai)局(ju)部(bu)陷(xian)阱(jing)位(wei)置(zhi)並(bing)釋(shi)放(fang)能(neng)量(liang)。如(ru)果(guo)釋(shi)放(fang)的(de)能(neng)量(liang)足(zu)夠(gou)高(gao),聚(ju)酰(xian)亞(ya)胺(an)內(nei)的(de)鍵(jian)結(jie)就(jiu)會(hui)斷(duan)開(kai),從(cong)而(er)產(chan)生(sheng)更(geng)多(duo)陷(xian)阱(jing)位(wei)置(zhi),導(dao)致(zhi)更(geng)多(duo)空(kong)間(jian)電(dian)荷(he)被(bei)捕(bu)捉(zhuo)。這(zhe)種(zhong)正(zheng)反(fan)饋(kui)最(zui)終(zhong)造(zao)成(cheng)絕(jue)緣(yuan)擊(ji)穿(chuan)。
通過熱力學分析1,壽命L可以表示為:

其中,Et是無電荷注入發生的閾值場,m和n是比例常數。經觀測,iCoupler器件的HVE數據符合下式
其中,L是10 ppm時的失效時間,V是施加的連續高壓。下圖是一個簡化示例,使用來自高壓受測樣本的四個數據點來擬合該模型,並外推回典型工作電壓。

此數據是在將樣本置於800 V到2000 V rms的60 Hz共(gong)模(mo)電(dian)位(wei)差(cha)下(xia)測(ce)得(de)的(de)。各(ge)單(dan)元(yuan)的(de)失(shi)效(xiao)時(shi)間(jian)記(ji)錄(lu)並(bing)彙(hui)總(zong)於(yu)下(xia)麵(mian)的(de)威(wei)布(bu)爾(er)圖(tu)中(zhong)。對(dui)於(yu)預(yu)期(qi)工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)內(nei)的(de)較(jiao)低(di)電(dian)壓(ya),失(shi)效(xiao)時(shi)間(jian)通(tong)過(guo)外(wai)推(tui)獲(huo)得(de)。

iCoupler HVE壽命取決於施加的電壓是交流還是直流電壓。在直流電壓下,靜態場會阻止能量的捕捉/重組合釋放。因此,直流壽命遠遠長於交流壽命。iCoupler產品始終指定最差情況下的交流壽命。
工作電壓的均方根(rms)規格也可能引起誤解。400 V rms波形實際上是一個在正560 V與負560 V之間切換的正弦波形,因此隔離柵上的最高峰峰值電壓實際上是1120 V。我們已經確認,在額定電壓為400 V rms的雙極性波形下的壽命與在1120 V峰峰值波形下的壽命相同,與中心電壓無關。由於安全至關重要,數據手冊應采取保守態度以確保無潛在危險,因此iCoupler數字隔離器的數據手冊指定了絕對最差情況工作電壓。
結論
數(shu)字(zi)隔(ge)離(li)器(qi)的(de)引(yin)入(ru)使(shi)得(de)業(ye)已(yi)複(fu)雜(za)的(de)安(an)全(quan)標(biao)準(zhun)愈(yu)加(jia)令(ling)人(ren)困(kun)惑(huo),因(yin)為(wei)數(shu)字(zi)隔(ge)離(li)器(qi)使(shi)用(yong)不(bu)同(tong)於(yu)電(dian)流(liu)隔(ge)離(li)的(de)材(cai)料(liao)和(he)元(yuan)件(jian),並(bing)非(fei)所(suo)有(you)標(biao)準(zhun)都(dou)適(shi)用(yong)於(yu)數(shu)字(zi)隔(ge)離(li)器(qi)的(de)要(yao)求(qiu)。關(guan)於(yu)某(mou)種(zhong)工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)條(tiao)件(jian)下(xia)的(de)壽(shou)命(ming),與(yu)光(guang)耦(ou)合(he)器(qi)不(bu)同(tong),基(ji)於(yu)部(bu)分(fen)放(fang)電(dian)的(de)認(ren)證(zheng)不(bu)足(zu)以(yi)保(bao)證(zheng)數(shu)字(zi)隔(ge)離(li)器(qi)能(neng)在(zai)數(shu)十(shi)年(nian)的(de)使(shi)用(yong)期(qi)間(jian)安(an)全(quan)可(ke)靠(kao)地(di)工(gong)作(zuo)。應(ying)對(dui)這(zhe)些(xie)問(wen)題(ti)的(de)新(xin)標(biao)準(zhun)正(zheng)在(zai)製(zhi)定(ding)過(guo)程(cheng)中(zhong),但(dan)在(zai)新(xin)標(biao)準(zhun)頒(ban)布(bu)以(yi)前(qian),數(shu)字(zi)隔(ge)離(li)器(qi)供(gong)應(ying)商(shang)必(bi)須(xu)用(yong)可(ke)靠(kao)的(de)數(shu)據(ju)彌(mi)補(bu)這(zhe)些(xie)標(biao)準(zhun),支(zhi)持(chi)可(ke)靠(kao)性(xing)達(da)數(shu)十(shi)年(nian)的(de)承(cheng)諾(nuo)。正(zheng)因(yin)如(ru)此(ci),基(ji)於(yu)聚(ju)酰(xian)亞(ya)胺(an)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)iCoupler數字隔離器利用加速壽命測試,保證器件在額定工作電壓下能夠安全可靠地工作50年以上。
參考文獻
1、 Dissado, L.A., et al. “e IncorporaTIon of Space Charge DegradaTIon in the Life Model for Electrical InsulaTIng Materials.” IEEE TransacTIons on Dielectrics and Electrical Insulation. Vol. 2,
No. 6, pp. 1147-1158, December, 1995.
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