EMI近場輻射特性：新一代串行解串器例子

這(zhe)是(shi)同(tong)一(yi)家(jia)半(ban)導(dao)體(ti)供(gong)應(ying)商(shang)的(de)第(di)二(er)個(ge)例(li)子(zi)，該(gai)公(gong)司(si)開(kai)發(fa)了(le)一(yi)個(ge)通(tong)過(guo)串(chuan)行(xing)解(jie)串(chuan)器(qi)進(jin)行(xing)點(dian)到(dao)點(dian)傳(chuan)輸(shu)的(de)第(di)二(er)代(dai)芯(xin)片(pian)組(zu)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。在(zai)第(di)三(san)代(dai)芯(xin)片(pian)組(zu)中(zhong)，設(she)計(ji)團(tuan)隊(dui)采(cai)用(yong)了(le)一(yi)種(zhong)不(bu)同(tong)的(de)技(ji)術(shu)並(bing)升(sheng)級(ji)了(le)傳(chuan)輸(shu)能(neng)力(li)。他(ta)們(men)將(jiang)雙(shuang)向(xiang)控(kong)製(zhi)通(tong)道(dao)一(yi)起(qi)嵌(qian)入(ru)高(gao)速(su)串(chuan)行(xing)鏈(lian)路(lu)中(zhong)，從(cong)而(er)實(shi)現(xian)了(le)雙(shuang)向(xiang)傳(chuan)輸(shu)（全雙工）。

為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設計的輻射特性

，設計團隊再次使用了內部的EMI極近場掃描儀。他們將原來的半雙工板放在掃描儀上，進行基線測量。對待測器件加電後，他們在PC上激活了掃描儀。（參見圖4）

圖4：半雙工和全雙工串行解串器器件的EMI掃描的測試環境

caiyongtongyangdeceshishezhi，shejituanduiyongxinyidaiquanshuanggongxinpianzubantidailejixianban，tongshiyezhenduimeiyitiaotexingbaochiletongyangdeguige。rushangwensuoshu，xuzhuyideshi，kongjiansaomiaodiejiazaimeicishengchengdeGerber設計文件上，以幫助工程師可以確定任何存在的輻射源。

基線（半雙工）係統的空間和頻譜特性如圖5所示。圖6展示了全雙工模式下的輻射掃描結果。

圖5：基線掃描結果：半雙工模式下的串行解串器
 

圖6：輻射特性：全雙工模式下的串行解串器

設she計ji團tuan隊dui對dui空kong間jian掃sao描miao結jie果guo和he頻pin譜pu掃sao描miao結jie果guo進jin行xing了le仔zai細xi的de對dui比bi。很hen多duo人ren可ke能neng認ren為wei輻fu射she特te性xing會hui由you於yu擴kuo展zhan的de雙shuang向xiang傳chuan輸shu功gong能neng而er呈cheng現xian出chu更geng高gao的de電dian磁ci輸shu出chu。而er實shi際ji上shang
，與yu基ji線xian相xiang比bi
，全quan雙shuang工gong模mo式shi下xia沒mei有you出chu現xian尖jian峰feng信xin號hao並bing且qie峰feng值zhi輻fu射she基ji本ben相xiang似si，甚shen至zhi其qiEMI特性還略有改進（空間掃描結果呈現更深的藍色）。測試結果證明全雙工模式的新芯片組未出現明顯的變化（見圖3），設計團隊在沒有采取任何額外緩解措施的情況下實現了全雙工功能。

這(zhe)些(xie)測(ce)試(shi)是(shi)利(li)用(yong)這(zhe)家(jia)半(ban)導(dao)體(ti)公(gong)司(si)的(de)內(nei)部(bu)極(ji)近(jin)場(chang)掃(sao)描(miao)係(xi)統(tong)進(jin)行(xing)的(de)。在(zai)短(duan)短(duan)的(de)幾(ji)分(fen)鍾(zhong)內(nei)，就(jiu)獲(huo)得(de)了(le)上(shang)文(wen)所(suo)示(shi)的(de)結(jie)果(guo)。因(yin)為(wei)輻(fu)射(she)特(te)性(xing)結(jie)果(guo)清(qing)楚(chu)的(de)展(zhan)示(shi)了(le)其(qi)優(you)越(yue)的(de)性(xing)能(neng)
，設(she)計(ji)無(wu)需(xu)采(cai)取(qu)任(ren)何(he)額(e)外(wai)的(de)緩(huan)解(jie)措(cuo)施(shi)。

相xiang比bi而er言yan
，要yao在zai第di三san方fang測ce試shi箱xiang中zhong測ce試shi新xin設she計ji，就jiu要yao求qiu工gong程cheng師shi前qian往wang場chang外wai測ce試shi場chang所suo
，並bing會hui耗hao費fei大da半ban天tian的de時shi間jian。使shi用yong測ce試shi箱xiang往wang往wang需xu要yao提ti前qian幾ji周zhou安an排pai，這zhe會hui給gei開kai發fa過guo程cheng帶dai來lai極ji大da的de延yan誤wu。

極近場掃描解決方案不會替代在測試箱中測試設計的需求。不過，這種儀器可以在簡便的桌麵係統中實現快速的前後一致性測試功能。

與在測試箱中進行的遠場測量相比，極近場EMI特性可以提供實時反饋。此外
，這些測量結果與在測試箱中測得的遠場測量結果具有很高的相關性。因此，諸如EMxpert等deng極ji近jin場chang儀yi器qi可ke以yi減jian少shao在zai測ce試shi箱xiang中zhong進jin行xing類lei似si測ce試shi的de數shu量liang。總zong之zhi，這zhe可ke以yi幫bang助zhu設she計ji團tuan隊dui加jia快kuai測ce試shi進jin程cheng
，更geng快kuai地di得de到dao測ce試shi箱xiang測ce試shi的de一yi致zhi性xing測ce試shi結jie果guo。

qichegongchengshibuduanmianlinzhejiangdidianciganraohequebaosuoyouqichedianzixitongdediancijianrongdetiaozhan。ruguoyinrulexinqijiandanmeiyoujinxingchongfendeceshi，zhexiegongzuojiuhuiyuelaiyuekunnan。danggongyingshangnenggouyoulizhengmingxingongnengkeyixiangshangwendelianggelizisuoshiyiyangjuyoujiangdiEMI的效果時，就能引起客戶極大的興趣。

在上文的兩個例子中，供應商提供的結果顯示采用了SSCG功能可以降低EMI，同時在新一代串行解串器例子中其輻射特性則沒有變化。因此
，極近場EM掃描可以縮短每個產品的設計周期，無需采取任何額外措施並為汽車廠商降低成本。

對於供應商而言，極近場EMI掃描技術可以實現極具說服力的頻譜掃描
，並且可以直觀的把空間掃描結果疊加在Gerber設計文件上。這些功能可以幫助設計工程師記錄和測量其產品新功能組的EMItexing。shejigongchengshijierkeyizaicaiqulexindehuanjiecuoshihuozheqitashejibiangenghoukuaisudejinxingzhongxinceshi。yinci，gongyingshangshejituanduiyesuoduanlechanpinshangshishijian，erjijushuofulidesaomiaojieguokeyishifangandedaoqichechangshanggengkuaidecaina。