如何改善EMI測試吞吐率
發布時間:2013-03-16 責任編輯:Lynnjiao
【導讀】越來越多的EMC測試實驗室正努力提高EMI測試速度,加快收回成本的速度,贏取更多的EMC測試市場。本文像讀者介紹了EMI測試吞吐率以及如何改善EMI測試吞吐率。
什麼是EMI測試吞吐率
吞吐率是一種關於計算機或者數據通信係統(如網橋、路由器、網關或廣域網連接等)數據傳輸速率的測度,通常是對一個係統和它的部件處理傳輸數據請求能力的總體評價。由於EMI測試按照目的可以分為達標測試和診斷測試,因此吞吐率在EMI測試中也有兩種含義:在達標測試中,EMI測試吞吐率是指確定並且書麵報告DUT通過所需EMI測試的速度;在診斷測試中,EMI測試吞吐率還要包括對於沒有通過所需EMI測試的DUT,診斷並且解決問題所花費的時間。
對於電子產品來說,EMC測試已經成為與安規測試同等重要的基礎測試,越來越多的EMC實驗室不僅從測試方法、測試精度上對自己的測試能力進行改進,而且也越來越關注測試吞吐率,10 m暗室雙天線法就是一個例子,這歸根結底還是與降低測試成本密不可分的。一個EMC測試實驗室的建設包括土建、暗室建設、設備購買以及係統集成等大量的成本投入,以美國為例,一個10 m暗室至少需要200萬美元的固定投入,因此如何提高固定資產利用率,加快實驗室建設成本的收回速度,成為每個EMC測試實驗室不得不關心的問題。對於電子產品生產廠家而言,如何盡快的利用測試設備找到產品的EMC問題並且加以有效整改,加快新產品上市時間,搶占更多的市場份額,也是他們所麵對的重要問題。
有哪些因素限製了EMC測試的吞吐率呢?眾所周知,EMC測試分為EMS和EMI兩大類,按照傳導路徑不同,EMI測試又進而分為傳導發射(CE)和輻射發射(RE)兩部分,而輻射發射測試由於其係統複雜成為EMC測試中最耗時的部分,下圖是民標輻射發射的測試係統示意圖。為了尋找DUTdezuidafushefashe,ceshiguochengzhongxuyaozhuandongzhuantai,shengjiangtianxian,tongshishiyongjieshoujihuozhepinpuyijinxingsaomiao,qizhongmeiyigemokuaidedongzuodouhuiyingxiangceshisudu。dangran,ceshirenyuandenengliyujingyan,duiyuEMI測試速度的改善也至關重要。

圖1:民標輻射發射測試係統示意圖
從另外一個方麵來看,輻射發射需要測試的物理量是場強,然而該待測物理量是DUT方位角、天線高度、頻率、時間等變量組成的多維函數,對於多個變量進行遍曆測試花費的時間無疑是漫長的。以ITE設備為例(CISPR 22),完成一個完整輻射發射達標測試往往需要4、5個小時,如果需要診斷整改,需要的時間還要長的多。下麵我們以輻射發射測試為例,簡要分析如何改善EMI測試吞吐率。
如何改善EMI測試吞吐率
根據標準測試方法的要求以及多數主流EMC測試實驗室的測試流程,總結得到輻射發射測試典型的流程如圖。

圖2:典型輻射發射測試流程
在輻射發射測試開始前,首先需要明確DUT屬於哪種類型,需要遵從哪個EMC標準進行測試,按照測試方法要求擺放好DUT,並準備測試記錄文檔。對於大部分民標來說,1 GHz以下的極限線大多是準峰值極限線,而準峰值檢波器是速度很慢的一種檢波器,如果使用準峰值檢波器從30 MHz掃描到1 GHz,很(hen)可(ke)能(neng)要(yao)花(hua)上(shang)一(yi)兩(liang)天(tian)時(shi)間(jian),那(na)麼(me)既(ji)符(fu)合(he)測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)的(de)要(yao)求(qiu)又(you)能(neng)加(jia)快(kuai)測(ce)試(shi)吞(tun)吐(tu)率(lv)呢(ne)?根(gen)據(ju)檢(jian)波(bo)器(qi)工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li),峰(feng)值(zhi)檢(jian)波(bo)得(de)到(dao)的(de)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)幅(fu)值(zhi)一(yi)定(ding)大(da)於(yu)等(deng)於(yu)準(zhun)峰(feng)值(zhi)檢(jian)波(bo)器(qi),即(ji)EMI Peak ≥ EMI Quasi-peak(當幹擾信號是窄帶時,兩個檢波器得到的幅值相等),erfengzhijianboqidegongzuosudubizhunfengzhijianboqikuaideduo,yinciweiletigaoceshituntulv,tongchangxianyongfengzhijianboqijinxingyusaomiao,ranhoujiangdedaodeganraoxinhaodefuzhiyuzhunfengzhijixianxianjinxingbidui。ruguomougepindianshangganraoxinhaodefengzhijianbozhidiyuzhunfengzhijixianzhi,namegaipindianshangdeganraoxinhaodezhunfengzhijianbozhiyidingyediyuzhunfengzhijixianzhi,yincijiububizaigaipindianshangzaijinxingzhunfengzhijianbole。raner,ruguomouxiepindianshangganraoxinhaodefengzhijianbozhichaoguolezhunfengzhijixianzhi,namezhexiepindianshangdeganraoxinhaojiuchengweikeyiganraoxinhao,xuyaoshaixuanzhexiepinlvdian,jinyibushiyongzhunfengzhijianboqijinxingceliang,jiujinrulexiayigebuzhou,jikongjianzuidahua。zaikongjianzuidahuabuzhouzhong,xuyaozhuandongzhuantai,tiaojietianxianjia,shiyongzhunfengzhijianboqijianshikeyipindianshangganraoxinhaofuzhidebianhua,zhidaozhaodaozuidazhi。ruguosuoyoukeyixinhaodezhunfengzhijianbodezuidazhidoudiyuzhunfengzhijixianxian,namegaiDUT達標測試通過,否則還需要進行診斷整改 。實際上,70%的電子產品在第一次進行輻射發射測試時是無法通過標準要求的,因此診斷整改對於EMC測ce試shi實shi驗yan室shi來lai說shuo也ye是shi非fei常chang重zhong要yao的de一yi個ge環huan節jie。診zhen斷duan整zheng改gai大da多duo使shi用yong頻pin譜pu儀yi峰feng值zhi檢jian波bo快kuai速su掃sao描miao進jin行xing,這zhe樣yang可ke以yi迅xun速su發fa現xian整zheng改gai措cuo施shi對dui超chao標biao頻pin率lv點dian以yi及ji其qi他ta頻pin段duan幹gan擾rao信xin號hao發fa射she強qiang度du的de影ying響xiang。診zhen斷duan整zheng改gai的de時shi間jian比bi較jiao長chang,在zai不bu順shun利li的de情qing況kuang下xia,很hen可ke能neng需xu要yao花hua幾ji天tian才cai能neng解jie決jue發fa射she超chao標biao的de問wen題ti。輻fu射she發fa射she測ce試shi流liu程cheng最zui後hou兩liang個ge環huan節jie是shi審shen查zha和he出chu報bao告gao。
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