中心議題：

• 改進電路設計規程提高可測試性
• 分析良好的可測試性的機械接觸條件

解決方案：

• 通過遵守規程可減少生產測試的費用
• 采用新的測試方法和采用創新性適配器解決方案

隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術也取得巨大發展

，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC
，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm

，這zhe些xie僅jin是shi其qi中zhong的de兩liang個ge例li子zi。電dian子zi元yuan件jian的de布bu線xian設she計ji方fang式shi，對dui以yi後hou製zhi作zuo流liu程cheng中zhong的de測ce試shi能neng否fou很hen好hao進jin行xing，影ying響xiang越yue來lai越yue大da。下xia麵mian介jie紹shao幾ji種zhong重zhong要yao規gui則ze及ji實shi用yong提ti示shi。

通過遵守一定的規程（DFT-Design for Testability，可測試的設計）

，可(ke)以(yi)大(da)大(da)減(jian)少(shao)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)的(de)準(zhun)備(bei)和(he)實(shi)施(shi)費(fei)用(yong)。這(zhe)些(xie)規(gui)程(cheng)已(yi)經(jing)過(guo)多(duo)年(nian)發(fa)展(zhan)
，當(dang)然(ran)，若(ruo)采(cai)用(yong)新(xin)的(de)生(sheng)產(chan)技(ji)術(shu)和(he)元(yuan)件(jian)技(ji)術(shu)，它(ta)們(men)也(ye)要(yao)相(xiang)應(ying)的(de)擴(kuo)展(zhan)和(he)適(shi)應(ying)。隨(sui)著(zhe)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)結(jie)構(gou)尺(chi)寸(cun)越(yue)來(lai)越(yue)小(xiao)
，目(mu)前(qian)出(chu)現(xian)了(le)兩(liang)個(ge)特(te)別(bie)引(yin)人(ren)注(zhu)目(mu)的(de)問(wen)題(ti)：一是可接觸的電路節點越來越少
；二是像在線測試（In-Circuit-Test）這zhe些xie方fang法fa的de應ying用yong受shou到dao限xian製zhi。為wei了le解jie決jue這zhe些xie問wen題ti，可ke以yi在zai電dian路lu布bu局ju上shang采cai取qu相xiang應ying的de措cuo施shi，采cai用yong新xin的de測ce試shi方fang法fa和he采cai用yong創chuang新xin性xing適shi配pei器qi解jie決jue方fang案an。第di二er個ge問wen題ti的de解jie決jue還hai涉she及ji到dao使shi原yuan來lai作zuo為wei獨du立li工gong序xu使shi用yong的de測ce試shi係xi統tong承cheng擔dan附fu加jia任ren務wu。這zhe些xie任ren務wu包bao括kuo通tong過guo測ce試shi係xi統tong對dui存cun儲chu器qi組zu件jian進jin行xing編bian程cheng或huo者zhe實shi行xing集ji成cheng化hua的de元yuan器qi件jian自zi測ce試shi（Built-in Self Test，BIST
，內建的自測試）。將jiang這zhe些xie步bu驟zhou轉zhuan移yi到dao測ce試shi係xi統tong中zhong去qu
，總zong起qi來lai看kan，還hai是shi創chuang造zao了le更geng多duo的de附fu加jia價jia值zhi。為wei了le順shun利li地di實shi施shi這zhe些xie措cuo施shi，在zai產chan品pin科ke研yan開kai發fa階jie段duan，就jiu必bi須xu有you相xiang應ying的de考kao慮lv。

1、什麼是可測試性

可測試性的意義可理解為：測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種元件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是：

• 檢測產品是否符合技術規範的方法簡單化到什麼程度？
• 編製測試程序能快到什麼程度？
• 發現產品故障全麵化到什麼程度？
• 接入測試點的方法簡單化到什麼程度？

為(wei)了(le)達(da)到(dao)良(liang)好(hao)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)必(bi)須(xu)考(kao)慮(lv)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)和(he)電(dian)氣(qi)方(fang)麵(mian)的(de)設(she)計(ji)規(gui)程(cheng)。當(dang)然(ran)，要(yao)達(da)到(dao)最(zui)佳(jia)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)，需(xu)要(yao)付(fu)出(chu)一(yi)定(ding)代(dai)價(jia)，但(dan)對(dui)整(zheng)個(ge)工(gong)藝(yi)流(liu)程(cheng)來(lai)說(shuo)
，它(ta)具(ju)有(you)一(yi)係(xi)列(lie)的(de)好(hao)處(chu)，因(yin)此(ci)是(shi)產(chan)品(pin)能(neng)否(fou)成(cheng)功(gong)生(sheng)產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)前(qian)提(ti)。

2、為什麼要發展測試友好技術

過guo去qu
，若ruo某mou一yi產chan品pin在zai上shang一yi測ce試shi點dian不bu能neng測ce試shi，那na麼me這zhe個ge問wen題ti就jiu被bei簡jian單dan地di推tui移yi到dao直zhi一yi個ge測ce試shi點dian上shang去qu。如ru果guo產chan品pin缺que陷xian在zai生sheng產chan測ce試shi中zhong不bu能neng發fa現xian，則ze此ci缺que陷xian的de識shi別bie與yu診zhen斷duan也ye會hui簡jian單dan地di被bei推tui移yi到dao功gong能neng和he係xi統tong測ce試shi中zhong去qu。

相xiang反fan地di，今jin天tian人ren們men試shi圖tu盡jin可ke能neng提ti前qian發fa現xian缺que陷xian，它ta的de好hao處chu不bu僅jin僅jin是shi成cheng本ben低di

，更geng重zhong要yao的de是shi今jin天tian的de產chan品pin非fei常chang複fu雜za
，某mou些xie製zhi造zao缺que陷xian在zai功gong能neng測ce試shi中zhong可ke能neng根gen本ben檢jian查zha不bu出chu來lai。例li如ru某mou些xie要yao預yu先xian裝zhuang軟ruan件jian或huo編bian程cheng的de元yuan件jian，就jiu存cun在zai這zhe樣yang的de問wen題ti。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable Devices係統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研製開發階段就計劃好
，而測試係統也必須掌握這種編程。

測ce試shi友you好hao的de電dian路lu設she計ji要yao費fei一yi些xie錢qian
，然ran而er，測ce試shi困kun難nan的de電dian路lu設she計ji費fei的de錢qian會hui更geng多duo。測ce試shi本ben身shen是shi有you成cheng本ben的de，測ce試shi成cheng本ben隨sui著zhe測ce試shi級ji數shu的de增zeng加jia而er加jia大da
；從(cong)在(zai)線(xian)測(ce)試(shi)到(dao)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)以(yi)及(ji)係(xi)統(tong)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)費(fei)用(yong)越(yue)來(lai)越(yue)大(da)。如(ru)果(guo)跳(tiao)過(guo)其(qi)中(zhong)一(yi)項(xiang)測(ce)試(shi)
，所(suo)耗(hao)費(fei)用(yong)甚(shen)至(zhi)會(hui)更(geng)大(da)。一(yi)般(ban)的(de)規(gui)則(ze)是(shi)每(mei)增(zeng)加(jia)一(yi)級(ji)測(ce)試(shi)費(fei)用(yong)的(de)增(zeng)加(jia)係(xi)數(shu)是(shi)10倍。通過測試友好的電路設計

，可以及早發現故障，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。

3、文件資料怎樣影響可測試性

zhiyouchongfenliyongyuanjiankaifazhongwanzhengdeshujuziliao，caiyoukenengbianzhichunengquanmianfaxianguzhangdeceshichengxu。zaixuduoqingkuangxia，kaifabumenheceshibumenzhijiandemiqiehezuoshibiyaode。wenjianziliaoduiceshigongchengshilejieyuanjiangongneng，zhidingceshizhanlve，youwukezhengyideyingxiang。

為(wei)了(le)繞(rao)開(kai)缺(que)乏(fa)文(wen)件(jian)和(he)不(bu)甚(shen)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)所(suo)產(chan)生(sheng)的(de)問(wen)題(ti)，測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)製(zhi)造(zao)商(shang)可(ke)以(yi)依(yi)靠(kao)軟(ruan)件(jian)工(gong)具(ju)
，這(zhe)些(xie)工(gong)具(ju)按(an)照(zhao)隨(sui)機(ji)原(yuan)則(ze)自(zi)動(dong)產(chan)生(sheng)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)

，或(huo)者(zhe)依(yi)靠(kao)非(fei)矢(shi)量(liang)相(xiang)比(bi)
，非(fei)矢(shi)量(liang)方(fang)法(fa)隻(zhi)能(neng)算(suan)作(zuo)一(yi)種(zhong)權(quan)宜(yi)的(de)解(jie)決(jue)辦(ban)法(fa)。
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測試前的完整的文件資料包括零件表，電路設計圖數據（主要是CAD數據）以及有關務元件功能的詳細資料（如數據表）。隻有掌握了所有信息
，才可能編製測試矢量，定義元件失效樣式或進行一定的預調整。

mouxiejixiefangmiandeshujuyeshizhongyaode，lirunaxieweilejianzhazujiandehanjieshifoulianghaojidingweishifousuoxuyaodeshuju。zuihou，duiyukebianchengdeyuanjian，rukuaishancunchuqi，PLD、FPGAdeng，ruguobushizaizuihouanzhuangshicaibiancheng，shizaiceshixitongshangjiuyingbianhaochengxudehua
，yebixuzhidaogezidebianchengshuju。kuaishanyuanjiandebianchengshujuyingwanzhengwuque。rukuaishanxinpianhan16Mbit的數據
，就應該可以用到16Mbit

，這樣可以防止誤解和避免地址衝突。例如
，如果用一個4Mbit存儲器向一個元件僅僅提供300Kbit數據，就可能出現這種情況。當然數據應準備成流行的標準格式
，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S記錄結構等。大多數測試係統，隻要能夠對快閃或ISPyuanjianjinxingbiancheng，shikeyijieduzhexiegeshide。qianmiansuotidaodexuduoxinxi


，qizhongxuduoyeshiyuanjianzhizaosuobixude。dangran，zaikezhizaoxinghekeceshixingzhijianyingmingquequbie，yinweizheshiwanquanbutongdegainian

，congergouchengbutongdeqianti。

4、良好的可測試性的機械接觸條件

ruguobukaolvjixiefangmiandejibenguize
，jishizaidianqifangmianjuyoufeichanglianghaodekeceshixingdedianlu


，yekenengnanyiceshi。xuduoyinsuhuixianzhidianqidekeceshixing。ruguoceshidianbugouhuotaixiao，tanzhenchuangshipeiqijiunanyijiechudaodianludemeigejiedian。ruguoceshidianweizhiwuchahechicunwuchataida，jiuhuichanshengceshizhongfuxingbuhaodewenti。zaishiyongtanzhenchuangpeiqishi，yingliuyiyixilieyouguantaolaokongyuceshidiandedaxiaohedingweidejianyi

5
、最佳可測試性的電氣前提條件

電dian氣qi前qian提ti條tiao件jian對dui良liang好hao的de可ke測ce試shi性xing
，和he機ji械xie接jie觸chu條tiao件jian一yi樣yang重zhong要yao，兩liang者zhe缺que一yi不bu可ke。一yi個ge門men電dian路lu不bu能neng進jin行xing測ce試shi
，原yuan因yin可ke能neng是shi無wu法fa通tong過guo測ce試shi點dian接jie觸chu到dao啟qi動dong輸shu入ru端duan，也ye可ke能neng是shi啟qi動dong輸shu入ru端duan處chu在zai封feng裝zhuang殼ke內nei，外wai部bu無wu法fa接jie觸chu，在zai原yuan則ze上shang這zhe兩liang情qing況kuang同tong樣yang都dou是shi不bu好hao的de，都dou使shi測ce試shi無wu法fa進jin行xing。在zai設she計ji電dian路lu時shi應ying該gai注zhu意yi
，凡fan是shi要yao用yong在zai線xian測ce試shi法fa檢jian測ce的de元yuan件jian，都dou應ying該gai具ju備bei某mou種zhong機ji理li，使shi各ge個ge元yuan件jian能neng夠gou在zai電dian氣qi上shang絕jue緣yuan起qi來lai。這zhe種zhong機ji理li可ke以yi借jie助zhu於yu禁jin止zhi輸shu入ru端duan來lai實shi現xian
，它ta可ke以yi將jiang元yuan件jian的de輸shu出chu端duan控kong製zhi在zai靜jing態tai的de高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。

雖然幾乎所有的測試係統都能夠逆驅動（Backdriving）方式將某一節點的狀態帶到任意狀態，但是所涉及的節點最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節點帶到高歐姆狀態，然後再“平緩地”加上相應的電平。

同樣，節拍發生器總是通過啟動引線
，門電路或插接電橋從振蕩器後麵直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100歐ou姆mu的de電dian阻zu與yu電dian路lu連lian接jie。每mei個ge元yuan件jian應ying有you自zi己ji的de啟qi動dong
，複fu位wei或huo控kong製zhi引yin線xian腳jiao。必bi須xu避bi免mian許xu多duo元yuan件jian的de啟qi動dong輸shu入ru端duan共gong用yong一yi個ge電dian阻zu與yu電dian路lu相xiang連lian。這zhe條tiao規gui則ze對dui於yuASIC元(yuan)件(jian)也(ye)適(shi)用(yong)，這(zhe)些(xie)元(yuan)件(jian)也(ye)應(ying)有(you)一(yi)個(ge)引(yin)線(xian)腳(jiao)，通(tong)過(guo)它(ta)

，可(ke)將(jiang)輸(shu)出(chu)端(duan)帶(dai)到(dao)高(gao)歐(ou)姆(mu)狀(zhuang)態(tai)。如(ru)果(guo)元(yuan)件(jian)在(zai)接(jie)通(tong)工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)時(shi)可(ke)實(shi)行(xing)複(fu)位(wei)，這(zhe)對(dui)於(yu)由(you)測(ce)試(shi)器(qi)來(lai)引(yin)發(fa)複(fu)位(wei)也(ye)是(shi)非(fei)常(chang)有(you)幫(bang)助(zhu)的(de)。在(zai)這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)下(xia)
，元(yuan)件(jian)在(zai)測(ce)試(shi)前(qian)就(jiu)可(ke)以(yi)簡(jian)單(dan)地(di)置(zhi)於(yu)規(gui)定(ding)的(de)狀(zhuang)態(tai)。

不(bu)用(yong)的(de)元(yuan)件(jian)引(yin)線(xian)腳(jiao)同(tong)樣(yang)也(ye)應(ying)該(gai)是(shi)可(ke)接(jie)觸(chu)的(de)
，因(yin)為(wei)在(zai)這(zhe)些(xie)地(di)方(fang)未(wei)發(fa)現(xian)的(de)短(duan)路(lu)也(ye)可(ke)能(neng)造(zao)成(cheng)元(yuan)件(jian)故(gu)障(zhang)。此(ci)外(wai)，不(bu)用(yong)的(de)門(men)電(dian)路(lu)往(wang)往(wang)在(zai)以(yi)後(hou)會(hui)被(bei)利(li)用(yong)於(yu)設(she)計(ji)改(gai)進(jin)，它(ta)們(men)可(ke)能(neng)會(hui)改(gai)接(jie)到(dao)電(dian)路(lu)中(zhong)來(lai)。所(suo)以(yi)同(tong)樣(yang)重(zhong)要(yao)的(de)是(shi)
，它(ta)們(men)從(cong)一(yi)開(kai)始(shi)就(jiu)應(ying)經(jing)過(guo)測(ce)試(shi)
，以(yi)保(bao)證(zheng)其(qi)工(gong)件(jian)可(ke)靠(kao)。