《汽車如何推動新的可測性設計(DFT)技術》的中文版研究報告全文可在 Mentor Graphics 的官方網站閱讀和下載： http://mentorg.com.cn/aboutus/view.php?id=256 。 

 

 

隨著人們對安全關鍵應用設備，尤其是汽車 IC（集成電路）
，提出了新的需求，DFT（可測性設計）技術又再次受到重視。越來越多的處理器被運用於汽車的刹車係統
、發動機控製、平視顯示器

、導dao航hang係xi統tong和he圖tu像xiang傳chuan感gan器qi等deng等deng。這zhe些xie芯xin片pian必bi須xu滿man足zu非fei常chang高gao的de質zhi量liang和he可ke靠kao性xing標biao準zhun，所suo以yi芯xin片pian製zhi造zao商shang也ye必bi須xu進jin行xing高gao水shui平ping的de生sheng產chan測ce試shi和he係xi統tong內nei部bu測ce試shi。不bu僅jin如ru此ci，他ta們men還hai必bi須xu在zai盡jin可ke能neng提ti升sheng測ce試shi水shui平ping的de同tong時shi，確que保bao測ce試shi時shi間jian和he成cheng本ben不bu會hui增zeng加jia。 

 

 

 

如今有兩種測試方法被眾多安全關鍵設備開發商迅速采納 -- 單元識別 (Cell-Aware) 自動測試向量生成 (ATPG) 法和 ATPG/邏輯內建自測試 (LBIST) 綜合運用法。單元識別測試法可實現每百萬缺陷數 (DPM) 為零的目標。綜合測試法則通過將ATPG和LBIST 邏輯電路測試法相結合來提高測試質量和效率。 

 

事實證明，單元識別 ATPG 測試法是唯一可以發現傳統方法檢測不出的缺陷的方法。它可以發現一套完整的針對固定故障、節jie點dian跳tiao變bian和he時shi延yan缺que陷xian的de測ce試shi方fang法fa發fa現xian不bu了le的de缺que陷xian，因yin為wei這zhe種zhong方fang法fa首shou先xian就jiu對dui標biao準zhun單dan元yuan進jin行xing物wu理li布bu局ju時shi可ke能neng出chu現xian的de實shi際ji缺que陷xian進jin行xing模mo擬ni。在zai新xin技ji術shu的de改gai進jin下xia
，單dan元yuan識shi別bie測ce試shi法fa中zhong的de測ce試shi向xiang量liang大da小xiao得de以yi縮suo小xiao，但dan整zheng個ge測ce試shi向xiang量liang仍reng大da於yu傳chuan統tong的de測ce試shi方fang法fa產chan生sheng的de測ce試shi向xiang量liang，因yin此ci要yao進jin行xing嵌qian入ru式shi壓ya縮suo。許xu多duo公gong司si因yin為wei采cai用yong單dan元yuan識shi別bie測ce試shi法fa而er收shou效xiao顯xian著zhu。部bu分fen成cheng效xiao的de概gai述shu請qing見jian圖tu1。 

 

 

圖1：截至2013年12月來自使用單元識別測試法的公司的矽結果。安森美半導體 (On Semiconductor) 結果在2013年 ETS 上進行了發布；AMD 結果在2012年 ITS 上進行了發布。  

 

越來越多的客戶在設計相同的電路時同時采用嵌入式壓縮和 LBIST 測ce試shi法fa。由you於yu這zhe兩liang種zhong技ji術shu能neng夠gou以yi類lei似si的de方fang式shi運yun用yong掃sao描miao鏈lian，因yin此ci可ke以yi將jiang兩liang者zhe整zheng合he成cheng可ke共gong享xiang的de統tong一yi邏luo輯ji，從cong而er幫bang助zhu客ke戶hu更geng有you效xiao地di運yun用yong這zhe種zhong方fang法fa。綜zong合he測ce試shi邏luo輯ji架jia構gou請qing見jian圖tu2。 

 

圖2：混合壓縮邏輯架構和邏輯內建自測試共享大部分解壓單元/LFSR 和壓縮單元/MSIR 邏輯。  

 

嵌入式壓縮解壓單元在設計上也可整合進線性反饋移位寄存器 (LFSR)
，為wei邏luo輯ji內nei建jian自zi測ce試shi帶dai來lai偽wei隨sui機ji模mo式shi。邏luo輯ji內nei建jian自zi測ce試shi和he嵌qian入ru式shi壓ya縮suo邏luo輯ji都dou可ke通tong過guo相xiang移yi位wei器qi為wei掃sao描miao鏈lian提ti供gong數shu據ju
，這zhe樣yang邏luo輯ji得de以yi完wan全quan共gong享xiang。掃sao描miao鏈lian結jie果guo通tong過guo嵌qian入ru式shi壓ya縮suo擠ji壓ya到dao一yi起qi。該gai邏luo輯ji主zhu要yao與yu邏luo輯ji內nei建jian自zi測ce試shi混hun合he使shi用yong
，減jian少shao進jin入ru一yi個ge簽qian名ming計ji算suan器qi的de掃sao描miao鏈lian結jie果guo數shu量liang。與yu單dan獨du進jin行xing嵌qian入ru式shi壓ya縮suo和he邏luo輯ji內nei建jian自zi測ce試shi相xiang比bi，該gai共gong享xiang邏luo輯ji可ke讓rang控kong製zhi器qi尺chi寸cun縮suo小xiao20%至30%。 

 

●混合測試法的優點 

 

hunheshiyongqianrushiyasuoheluojineijianziceshideyidahaochubianshishuangfanghubu。liru
，qianrushiyasuokeshixianfeichanggaopinzhideshengchanceshi。zheyiweizheninxuyaojiaoshaodeluojineijianzi測試點就可以提高隨機抵抗性邏輯的可測性，這可縮小邏輯內建自測試點的麵積。相反地

，X-bounding 以及任何為邏輯內建自測試增加的測試點都可提高電路的可測性，並改善嵌入式壓縮覆蓋和模式計數結果。 

 

汽車電子是半導體行業增長最迅速的領域之一，這些安全關鍵型設備標準正推動新DFT技術的出現。嵌入式壓縮的發明是重要的測試進步。

 

 

Ron Press 是明導矽測試解決方案產品的技術營銷經理。他在測試和 DFT（可測性設計）行業有著25年的經驗，曾多次出席全球各地的 DFT 和測試研討會。他發表了數十篇與測試相關的論文，是國際測試會議 (ITC) 指導委員會的成員
、IEEE 計算機學會 (IEEE Computer Society) 的 Golden Core 成員以及 IEEE 的高級會員。Press 擁有多項減少引腳數測試和無毛刺的自由時鍾切換的專利，並正在申請3D DFT 專利。