在LED電源產品的設計過程中，工程師們需要處理的絕不僅僅是電路設計問題
，更多的是LED電源的驅動方案選擇、LED的壽命維係以及後期的維護和檢修工作等。今天小編特別整理了一些在LED檢修和LED電源設計過程中的實用經驗
，通過問答的形式與各位新人工程師們一起分享


，下麵就讓我們一起來看看吧。

 

 

相信很多從事LED電源設計的工程師們都非常清楚，LED是目前世界上所研發的一種長壽命的電子元件

，理想狀況下的LED其工作壽命可達50000小時

，但應用電路設計不合理
、LED電源散熱性設計不好等因素，都會影響它的使用壽命。而麵對這一問題，使用能夠省去電解電容器的新一代LED驅動IC

，是一種切實可行的解決方案。

 

對於從事LED電源及周邊產品研發的工程師們來說，在設計新一代的驅動IC時
，必須要打破以往傳統的DC-DC拓撲結構設計思維，可以采用恒功率、摒棄磁滯控製的降壓型設計思路來進行新產品研發，采用定頻定電流控製也是一個好辦法。除此之外，高品質的LED驅動電路電路應力求簡潔
，減少元器件的使用數量
，並有效提高PWM控製器的占空比等。滿足以上條件，所設計的新一代驅動IC才能夠滿足高品質驅動電路的設計需求。

 

 

在進行LED電源的調試過程中，相信工程師們都曾經遇到過接通樣機後
，LED元件被擊穿的情況，這其中有相當一部分是被靜電所擊穿的。LED作為一種半導體，其本身的PN結是直接裸露在外頭的，很容易接觸靜電。當LED兩個電極上極性不同的電荷積累到一定的程度
，又得不到及時釋放時，此時電荷能量一旦超過LED芯片最大承受值

，電荷將以極短的瞬間在LED兩個電極層之間進行放電，並在導電層之間局部會形成1400℃以上的高溫，高溫將會把導電層之間熔融成一些小孔，這就是我們在LED電源測試過程中
，常遇到的LED擊穿現象了。

 

在進行LED電源的新產品樣機測試時，一旦遇到LED元件被靜電擊穿的現象，說明所設計的電路中有不合理的因素存在
，此時工程師需要及時的進行電路設計調整並重新測試。