對(dui)於(yu)電(dian)源(yuan)工(gong)程(cheng)師(shi)來(lai)說(shuo)，掌(zhang)握(wo)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)相(xiang)關(guan)基(ji)本(ben)原(yuan)理(li)是(shi)作(zuo)為(wei)電(dian)源(yuan)工(gong)程(cheng)師(shi)的(de)基(ji)本(ben)要(yao)求(qiu)。能(neng)夠(gou)根(gen)據(ju)這(zhe)些(xie)原(yuan)理(li)及(ji)相(xiang)關(guan)公(gong)式(shi)來(lai)設(she)計(ji)電(dian)源(yuan)產(chan)品(pin)成(cheng)為(wei)了(le)步(bu)入(ru)電(dian)源(yuan)行(xing)業(ye)的(de)必(bi)備(bei)能(neng)力(li)。經(jing)過(guo)一(yi)段(duan)時(shi)間(jian)後(hou)，每(mei)個(ge)電(dian)源(yuan)工(gong)程(cheng)師(shi)都(dou)會(hui)積(ji)累(lei)一(yi)定(ding)的(de)實(shi)踐(jian)經(jing)驗(yan)
，在(zai)一(yi)次(ci)次(ci)的(de)實(shi)戰(zhan)中(zhong)逐(zhu)漸(jian)加(jia)深(shen)理(li)解(jie)並(bing)且(qie)提(ti)高(gao)分(fen)析(xi)問(wen)題(ti)
、jiejuewentidenengli。erwomenjingchanghuimianduigezhonggeyangdedianyuanyichangzhuangkuang，duizhexiewentijinxingfenxihejiejuekeyijiaqianggongchengshiduidianyuanshejidelijie。qizhongfanjideyingyongzuiguangfan
，benwenjiuyicijiwenyadefanjidianluweililaifenxiangyixiajizhongyichangzhuangkuangjixiangguanfenxi。

 

 

炸機問題可以分幾種情況
，以2843xilieweili
，caiyangdianzuduanjiejiuzhijieshidedianliuhuandegongnengshilingle

，qicianzhaochangliyinggaishihuijinrudianyakongzhideshuchufankuihuanlujinxingwenya
，qiezhankongbishizhongkaidaozuida。 但實際情況是去掉電流環流環路後，沒有了逐周期的電流檢測進行矯正
，電壓環路的速度是相對較慢的（無法實現輸入功率跟隨輸出功率的工作）。無法對電感這麼大的慣性環節進行有效調整
， 所以環路震蕩
，驅動進入無序的模式（不再是定頻的）且輸入能量過剩

，電感CCM模式。基於之前說的隻有電壓環工作與炸機的關係（環路必然是震蕩的）。

 

1.空載情況：由於輸出負載電流時分微小
，電壓環的速度相對會快一些（相對於重載）
，模塊可能短時間內不炸甚至一直不炸機。
 

2.帶載越重，電壓環的響應越慢

，輸入能量過剩情況約嚴重! 炸機速度越快。

 

3.重載也不一定會燒，現在很多都有斜坡補償和高低壓補償，如果補的比較多

，IC還是可以有限流功能。

 

 

虛焊或者掉件，相當於沒有RCD了，此時MOS的應力會加大，一般是會超出MOS規格，使MOS工作在雪崩狀態，而且是重複性的。如果是裕量不足的馬上會炸MOS，也有可能暫時不炸，但進一步看：在滿載狀態下持續烤機，隨著溫度的身高
，MOS應力會增加，MOS個體耐受力較弱的也會炸。

 

 

把bulk電容去掉
，會導致母線電壓不穩定，但還是可以正常開機。影響主要有以下幾點：

 

1)從空載到滿載的過程，輸出電壓會掉電壓，主要由於在低母線電壓的時候會觸發原邊過流保護。

 

2)此時變壓器會飽和，可能有噪音。

 

3)如果啟動電路從整流器前接，對啟動不會有影響;如果啟動從母線接，則會使啟動時間更長。

 

4)此時效率會很差，母線電壓波動越大效率越差。通常提高效率會采用的一招就是增大這電容。

 

符合安規很困難。因為AC L/N接入保險後麵的電路
，導致安全距離很難符合安規要求。這裏主要說明兩點：

 

1)對於做過安規的都清楚，有open/short實驗，對於IC，任意兩個pin腳短路測試。短路後可以保護、沒輸出或者炸機，但要保證滿足以下兩點：

 

A.不能有起火
、冒煙現象
；

 

B.Hi-pot測試OK。上麵的原理圖，當將IC的HV pin和FB pin短路
，HV的高壓會把連接到FB pin的光耦打壞。在這種情況下去測Hi-pot就會fail
，存在安全隱患。那麼該如何解決呢
？可以在光耦的3、4 pin並穩壓管
，但要注意穩壓管的功率大小
，選型不對仍然會把光耦打壞。

 

2)VCC繞組串接電阻。在安規的異常測試中，比如VCC繞組抽載，如果沒有串電阻可能會有變壓器過熱問題，損壞變壓器的絕緣，導致Hi-pot通不過，存在安全隱患。實際中可能很多都沒加，還是建議加上，還可以承受一定壓降利於VCC電壓
，也可以當跳線用。