通信產品輻射發射超標問題的解決
發布時間:2008-10-13 來源:EMCCHINA.ORG 中國電磁兼容網
中心議題:
- 討論輻射發射產生的原因
- 詳細描述解決高速電路輻射發射超標的過程
解決方案:
- 使中頻板停止工作,排除中頻板產生幹擾的可能
- 使用SDRAM_CLK0作為SDRAM工作時鍾
- 采用關斷幹擾源 、減小高頻電流幅度解決輻射發射超標問題
問題的提出
通信技術的發展要求器件的速度愈來愈高,由此引起的電磁兼容問題就更加嚴重。本文以無線寬帶接入係統的終端用戶單元(SU)為例,來探討通信產品的輻射發射超標問題。
無線寬帶接入係統的終端用戶單元由860小係統、8240小係統、FPGA(現場可編程門陣列)和基帶中頻單元組成,其中860小係統、8240小係統和FPGA電路在一塊PCB(印刷電路板)上,稱為網絡接口板;基帶中頻電路單獨為一塊PCB,稱(cheng)為(wei)基(ji)帶(dai)中(zhong)頻(pin)板(ban)。二(er)者(zhe)通(tong)過(guo)插(cha)座(zuo)相(xiang)連(lian),傳(chuan)遞(di)信(xin)號(hao)和(he)電(dian)源(yuan)。設(she)備(bei)外(wai)殼(ke)為(wei)注(zhu)塑(su)殼(ke)體(ti),內(nei)層(ceng)沒(mei)有(you)噴(pen)塗(tu)導(dao)電(dian)漆(qi)。筆(bi)者(zhe)對(dui)該(gai)產(chan)品(pin)輻(fu)射(she)發(fa)射(she)指(zhi)標(biao)進(jin)行(xing)了(le)測(ce)試(shi)。
測試環境為電波暗室,測試設備為寬帶天線、頻譜分析儀和信號放大器,天線可以在1 m與4 m高度範圍內升降,被測產品放置在一個可360°旋轉的平台上,距離天線3 m。測量時轉動平台,升降天線找到最大幹擾,天線測量取水平和垂直兩種極化。



按照接入設備的電磁兼容(EMC)測試要求,設備上電正常運行,測試儀器在30~1 000 MHz的頻率範圍內進行掃描,其中在30~230 MHz頻率範圍內要求電磁幹擾(EMI)的準峰值低於40 dBuV/m,在230~1000 MHz頻率範圍內,EMI的準峰值低於47 dBuV/m。測試的結果是:在垂直方向上,412.5 MHz處超標4.08 dB,577.5 MHz處超標3.5 dB;在水平方向上,577.5 MHz處超標7.9 dB,參見圖1。
考慮到中頻板上有調製解調電路,其載波頻率比較高(為349 MHz),為此將中頻板的5 V和3.3 Vgongzuodianyuanduankai,shizhongpinbantingzhigongzuo。zaiceshishebeidedianciganraoshi,rengranzaishangshulianggepindianchuyouchaobiao,yinerkeyipaichuzhongpinbanchanshengshangshupindianganraodekeneng。
原因分析
任何電磁兼容性問題都包含3個要素,即幹擾源、敏感源和耦合路徑,這3個要素中缺少一個,電磁兼容問題就不會存在。因此,在解決電磁兼容問題時,也要從這3個要素著手進行分析,再根據具體情況,采取適當的措施消除其中的一個。
首先從幹擾源開始分析。在通信產品中,電路的工作時鍾越來越高,信號的上升/下xia降jiang沿yan越yue來lai越yue陡dou,由you此ci帶dai來lai的de電dian磁ci兼jian容rong問wen題ti也ye愈yu加jia尖jian銳rui。數shu字zi電dian路lu的de電dian磁ci兼jian容rong設she計ji中zhong要yao考kao慮lv的de是shi數shu字zi脈mai衝chong的de上shang升sheng沿yan和he下xia降jiang沿yan決jue定ding的de頻pin帶dai寬kuan,而er不bu是shi數shu字zi脈mai衝chong的de重zhong複fu頻pin率lv。根gen據ju經jing驗yan公gong式shi,計ji算suanEMI發射帶寬的公式可以表示為:
f=0.35/Tr (1)
其中,f是頻率(單位是GHz),Tr是信號上升/下降時間(單位是ns)。由此不難看出,一個具有2 ns上升沿的時鍾信號輻射能量的帶寬可達160 MHz,其輻射帶寬可達10倍頻,即1.6 GHz。
在電工學中,周期電流、電壓、信號等都可以用一個周期信號來表示,即f(t)=f(t+kT),T為周期函數的周期。如果給定的周期函數同時有滿足狄裏赫利條件,則可以將其展開成付立葉級數:
將第1項A0稱為直流分量,第2項稱為一次諧波(或基波分量),其他各項統稱為高次諧波,即2次、3次、4次……k次(ci)諧(xie)波(bo)。一(yi)個(ge)理(li)想(xiang)的(de)方(fang)波(bo)信(xin)號(hao)包(bao)含(han)了(le)豐(feng)富(fu)的(de)諧(xie)波(bo)分(fen)量(liang)。在(zai)實(shi)際(ji)的(de)數(shu)字(zi)電(dian)路(lu)中(zhong),方(fang)波(bo)並(bing)不(bu)是(shi)理(li)想(xiang)的(de),它(ta)有(you)一(yi)定(ding)的(de)上(shang)升(sheng)和(he)下(xia)降(jiang)時(shi)間(jian)。方(fang)波(bo)頻(pin)譜(pu)包(bao)絡(luo)線(xian)的(de)衰(shuai)減(jian)率(lv)不(bu)僅(jin)與(yu)方(fang)波(bo)的(de)頻(pin)率(lv)有(you)關(guan),而(er)且(qie)還(hai)與(yu)方(fang)波(bo)脈(mai)衝(chong)的(de)持(chi)續(xu)時(shi)間(jian)有(you)關(guan)。方(fang)波(bo)脈(mai)衝(chong)的(de)持(chi)續(xu)時(shi)間(jian)越(yue)短(duan),高(gao)次(ci)諧(xie)波(bo)的(de)幹(gan)擾(rao)幅(fu)度(du)越(yue)大(da)。
因為終端網絡接口板上沒有412.5 MHz和577.5 MHzzhelianggepinlvxinhao,suoyihuaiyizhelianggepindiankenengshimouxiepinlvxinhaodexiebofenliang。gaosudianluzhong,shizhongdianliushidiyifusheyuan。bizheduizhongduanwangluojiekoubanshangdegeshizhongxinhaojinxingletongji,rubiao1所示。

通過粗略計算,412.5 MHz信號近似等於83.3 MHz的5次諧波(83.3×5=416.5 MHz),而577.5 MHz近似等於83.3 MHz的7次諧波(83.3×7=583.1 MHz)。

圖2所示為8240時鍾信號的產生原理圖。8240外部有源晶振產生33 MHz的振蕩頻率,送入8240芯片,經內部PLL(鎖相環)鎖相倍頻,輸出83.3 MHz頻率,作為SDRAM(同步動態隨機讀寫存儲器)的工作時鍾,8240有4個引腳可以同時送出該83.3 MHz的時鍾:SDRAM_CLK0~SDRAM_CLK3,而且可以在8240內部寄存器中設置開關。該單板在電路設計時,使用SDRAM_CLK0作為SDRAM工作時鍾,另一路SDRAM_CLK3送至一測試點,方便調試時測量時鍾信號,其餘2路設置為關閉狀態,不對外輸出時鍾。
初步試驗
為了證實412.5 MHz和577.5 MHz這兩個幹擾頻點是83.3 MHz時鍾所致,筆者先嚐試將8240的PLL配置電路取消,即8240鎖相環不工作,不對外輸出83.3 MHz時鍾,再進入電波暗室測試。結果發現,在30~1 000 MHz的掃描頻段中無超標頻點,獲得的測試曲線都在標準規定的準峰值以下。因此,可以判斷幹擾源就是8240輸出的83.3 MHz時鍾信號。
幹擾源雖然定位了,但係統在實際應用中83.3 MHz時鍾是必須要輸出的,接下來的問題就是如何解決83.3 MHz時鍾引起的EMI問題。因為電路的結構方案已經確定,想要去掉敏感源,難度太大,因此重點要從尋找幹擾耦合路徑入手。
在通信產品中,通常輻射的根源在其數字電路部分,而數字電路的輻射按其方式可分為差模輻射和共模輻射:chamofusheshiyouyudianliuliuguodianluzhongdedaoxianhuanluzaochengde,zhexiehuanluxiangdangyuzhengzaigongzuodexiaotianxian,xiangkongjianfushecichang,chamofusheyuhuanludianliuhehuanmianjichengzhengbi,yudianliupinlvdepingfangchengzhengbi;共模輻射是由於電路中存在不希望的電壓造成的,此電壓降使係統中某些部分處於高電位的共模電壓下,PCB板上的信號線在共模電壓的作用下被激勵,形成輻射電場的天線輻射與頻率、天線長度及流經天線的共模電流的幅度成正比。
解決方法
了解了輻射發射的機理後,可采取以下措施進行解決:
a.關斷幹擾源
在單板的表層有一測試孔,就是圖2中的SDRAM_CLK3信號,頻率為83.3 MHz,作(zuo)為(wei)調(tiao)試(shi)中(zhong)測(ce)量(liang)時(shi)鍾(zhong)信(xin)號(hao)所(suo)用(yong)。因(yin)為(wei)該(gai)信(xin)號(hao)屬(shu)於(yu)無(wu)負(fu)載(zai)形(xing)式(shi),而(er)且(qie)頻(pin)率(lv)比(bi)較(jiao)高(gao),在(zai)物(wu)理(li)上(shang)可(ke)以(yi)等(deng)效(xiao)於(yu)一(yi)個(ge)天(tian)線(xian),向(xiang)空(kong)間(jian)輻(fu)射(she)高(gao)頻(pin)電(dian)磁(ci)波(bo),該(gai)電(dian)磁(ci)波(bo)包(bao)含(han)了(le)83.3 MHz的高次諧波。
筆者修改8240控製寄存器,將SDRAM_CLK3信號屏蔽,不對外輸出83.3 MHz時鍾,再次進行EMI測試,結果577.5 MHz在垂直和水平方向上均沒有超標,412.5 MHz在垂直方向有3.85 dB的裕量,在水平方向有0.25 dB的裕量。這說明該測試點的輻射效應還是很強烈的,關閉該測試點也是有效的。 (2)減小地噪聲。
上shang述shu測ce試shi結jie果guo的de前qian提ti條tiao件jian是shi基ji帶dai中zhong頻pin板ban沒mei有you加jia電dian運yun行xing。實shi際ji應ying用yong時shi,中zhong頻pin板ban也ye應ying處chu於yu工gong作zuo狀zhuang態tai。在zai恢hui複fu給gei中zhong頻pin板ban的de供gong電dian後hou,測ce試shi結jie果guo立li刻ke變bian化hua:412.5 MHz點在水平方向超標4.21 dB,在垂直方向超標4.51 dB;而577.5 MHz在水平方向超標5 dB,垂直方向無超標。
對中頻板單獨進行測試,未發現以上2處超標頻點。利用直流穩壓源對單板測試,在這2點dian仍reng然ran存cun在zai幹gan擾rao,排pai除chu了le電dian源yuan單dan體ti引yin發fa幹gan擾rao的de可ke能neng。這zhe一yi現xian象xiang表biao明ming,隨sui著zhe中zhong頻pin板ban的de工gong作zuo,電dian源yuan的de工gong作zuo電dian流liu增zeng大da,地di噪zao聲sheng引yin起qi的de共gong模mo幹gan擾rao增zeng強qiang,83.3 MHz的諧波通過地噪聲增大了輻射強度。
筆者用高速示波器測量出網絡接口板的工作地噪聲(Vp-p)為96 mV,中頻板工作後,噪聲增至130 mV以上。此測量方法可能存在偏差,但總體的趨勢是2塊單板同時工作後,的確增加了地線噪聲,對EMI有一定的影響,隻不過影響是有限的。
在PCB布線時,筆者已經考慮到了高速信號線的EMI問題,因此一些關鍵信號線、高速時鍾線均在PCB內層布線,夾在電源層和地層之間,應該說屏蔽措施是比較可靠的。進一步還可以考慮在83.3 MHz時鍾線兩側采取"包地"的方法,用兩根平行的地線將該時鍾線包裹起來,可以在一定程度上減小EMI發射。
b.減小高頻電流幅度
在高速電路中,PCB線和集成電路的引腳上都不同程度地存在寄生電阻、寄(ji)生(sheng)電(dian)容(rong)和(he)寄(ji)生(sheng)電(dian)感(gan),在(zai)不(bu)同(tong)的(de)頻(pin)率(lv)下(xia)呈(cheng)現(xian)不(bu)同(tong)的(de)阻(zu)抗(kang)特(te)性(xing),從(cong)信(xin)號(hao)完(wan)整(zheng)性(xing)的(de)角(jiao)度(du)來(lai)看(kan),串(chuan)聯(lian)阻(zu)抗(kang)匹(pi)配(pei)能(neng)夠(gou)有(you)效(xiao)抑(yi)製(zhi)信(xin)號(hao)反(fan)射(she)和(he)振(zhen)蕩(dang),而(er)這(zhe)兩(liang)者(zhe)恰(qia)恰(qia)是(shi)EMI的主要來源。
83.3 MHz的時鍾線是否因為線路阻抗匹配不當,在線路上引起信號反射而導致EMI超標呢?在單板的設計階段,筆者使用Cadence公司的SI(信號完整性)仿真工具Signal Explore,對關鍵信號的串聯匹配電阻進行了細致的仿真,選擇51R匹配電阻,較好地抑製了時鍾信號的過衝和振蕩,從而最大程度地限製了EMI發射強度。選擇阻值更大的匹配電阻固然可以將信號過衝壓製得更低一些,同時EMI發射也將因此改善,但此舉會引起信號上升/下降沿變緩,嚴重時會導致係統時序出錯,引發一係列SI問題。因此,對匹配電阻的選擇要適可而止,須兼顧信號質量和時序的雙重需要。


至zhi此ci,從cong電dian路lu設she計ji上shang暫zan時shi還hai沒mei有you更geng好hao的de改gai進jin辦ban法fa。在zai結jie構gou工gong程cheng師shi的de協xie助zhu下xia,將jiang終zhong端duan單dan元yuan使shi用yong的de注zhu塑su殼ke體ti內nei表biao麵mian噴pen塗tu導dao電dian漆qi,對dui輻fu射she電dian磁ci波bo進jin行xing屏ping蔽bi,網wang絡luo接jie口kou板ban和he基ji帶dai中zhong頻pin板ban均jun加jia電dian運yun行xing,再zai次ci測ce試shi的de結jie果guo如ru圖tu3所示。從圖3可見,在30~1 000 MHz的頻段內,沒有超標頻點,筆者最關心的412.5 MHz在垂直方向有10.49 dB的裕量,577.5 MHz在垂直方向有6.9 dB的裕量。由此可見,在水平方向有2.1 dB的裕量,屏蔽的效果比預期的要好。根據經驗,噴塗導電漆前後的信號衰減一般在2~3 dB,而這次試驗的結果衰減了將近10 dB!
結論
筆bi者zhe一yi直zhi負fu責ze通tong信xin產chan品pin的de電dian磁ci兼jian容rong性xing能neng的de測ce試shi並bing作zuo相xiang應ying的de解jie決jue方fang法fa的de研yan究jiu,曾zeng先xian後hou對dui終zhong端duan網wang絡luo接jie入ru單dan元yuan和he基ji站zhan接jie入ru單dan元yuan進jin行xing了le多duo項xiang電dian磁ci兼jian容rong測ce試shi。在zai所suo有you的de測ce試shi項xiang目mu中zhong,最zui難nan通tong過guo、也最難解決的就是輻射發射指標超標的問題。
難點之一是尋找幹擾源。大多來自高速時鍾信號的高次諧波,尤其是奇次諧波:3、5、7、9次,像本文提到的就是5次和7次諧波。與此同時,還要排除其他成分的幹擾可能,如筆者分別對中頻板和電源單體進行測試,逐一排除,最終將幹擾源定位在83.3 MHz時鍾源上。
難nan點dian之zhi二er是shi幹gan擾rao源yuan定ding位wei後hou,對dui策ce也ye很hen難nan選xuan擇ze。首shou先xian從cong輻fu射she產chan生sheng的de機ji理li,尋xun找zhao最zui有you可ke能neng產chan生sheng天tian線xian效xiao應ying的de信xin號hao線xian,像xiang本ben文wen描miao述shu的de表biao層ceng測ce試shi孔kong。最zui有you效xiao的de方fang法fa就jiu是shi切qie斷duan輻fu射she路lu徑jing,使shi之zhi不bu能neng成cheng為wei良liang好hao的de發fa射she天tian線xian。
信號線的阻抗匹配不當引發的信號反射和振蕩也是EMI的重要原因,最佳方法是在設計階段對信號進行嚴格細致的仿真,從信號完整性的角度首先解決之。
能夠從電路設計方麵最大限度地抑製EMI是最好的,實在無能為力的情況下應該考慮從結構工藝方麵著手,增加屏蔽措施,本文提到的注塑殼體內層表麵噴塗導電漆對EMI的抑製效果是顯而易見的。
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