中心議題：

• 改進電路設計規程提高可測試性
• 分析良好的可測試性的機械接觸條件

解決方案：

• 通過遵守規程可減少生產測試的費用
• 采用新的測試方法和采用創新性適配器解決方案

隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術也取得巨大發展
，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm
，zhexiejinshiqizhongdelianggelizi。dianziyuanjiandebuxianshejifangshi

，duiyihouzhizuoliuchengzhongdeceshinengfouhenhaojinxing
，yingxiangyuelaiyueda。xiamianjieshaojizhongzhongyaoguizejishiyongtishi。

通過遵守一定的規程（DFT-Design for Testability
，可測試的設計），可ke以yi大da大da減jian少shao生sheng產chan測ce試shi的de準zhun備bei和he實shi施shi費fei用yong。這zhe些xie規gui程cheng已yi經jing過guo多duo年nian發fa展zhan，當dang然ran，若ruo采cai用yong新xin的de生sheng產chan技ji術shu和he元yuan件jian技ji術shu，它ta們men也ye要yao相xiang應ying的de擴kuo展zhan和he適shi應ying。隨sui著zhe電dian子zi產chan品pin結jie構gou尺chi寸cun越yue來lai越yue小xiao，目mu前qian出chu現xian了le兩liang個ge特te別bie引yin人ren注zhu目mu的de問wen題ti：一是可接觸的電路節點越來越少；二是像在線測試（In-Circuit-Test）這(zhe)些(xie)方(fang)法(fa)的(de)應(ying)用(yong)受(shou)到(dao)限(xian)製(zhi)。為(wei)了(le)解(jie)決(jue)這(zhe)些(xie)問(wen)題(ti)，可(ke)以(yi)在(zai)電(dian)路(lu)布(bu)局(ju)上(shang)采(cai)取(qu)相(xiang)應(ying)的(de)措(cuo)施(shi)，采(cai)用(yong)新(xin)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)和(he)采(cai)用(yong)創(chuang)新(xin)性(xing)適(shi)配(pei)器(qi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。第(di)二(er)個(ge)問(wen)題(ti)的(de)解(jie)決(jue)還(hai)涉(she)及(ji)到(dao)使(shi)原(yuan)來(lai)作(zuo)為(wei)獨(du)立(li)工(gong)序(xu)使(shi)用(yong)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)承(cheng)擔(dan)附(fu)加(jia)任(ren)務(wu)。這(zhe)些(xie)任(ren)務(wu)包(bao)括(kuo)通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)對(dui)存(cun)儲(chu)器(qi)組(zu)件(jian)進(jin)行(xing)編(bian)程(cheng)或(huo)者(zhe)實(shi)行(xing)集(ji)成(cheng)化(hua)的(de)元(yuan)器(qi)件(jian)自(zi)測(ce)試(shi)（Built-in Self Test，BIST
，內建的自測試）。將(jiang)這(zhe)些(xie)步(bu)驟(zhou)轉(zhuan)移(yi)到(dao)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)中(zhong)去(qu)，總(zong)起(qi)來(lai)看(kan)，還(hai)是(shi)創(chuang)造(zao)了(le)更(geng)多(duo)的(de)附(fu)加(jia)價(jia)值(zhi)。為(wei)了(le)順(shun)利(li)地(di)實(shi)施(shi)這(zhe)些(xie)措(cuo)施(shi)，在(zai)產(chan)品(pin)科(ke)研(yan)開(kai)發(fa)階(jie)段(duan)，就(jiu)必(bi)須(xu)有(you)相(xiang)應(ying)的(de)考(kao)慮(lv)。

1、什麼是可測試性

可測試性的意義可理解為：測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種元件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是：

• 檢測產品是否符合技術規範的方法簡單化到什麼程度
  ？
• 編製測試程序能快到什麼程度？
• 發現產品故障全麵化到什麼程度？
• 接入測試點的方法簡單化到什麼程度？

為wei了le達da到dao良liang好hao的de可ke測ce試shi必bi須xu考kao慮lv機ji械xie方fang麵mian和he電dian氣qi方fang麵mian的de設she計ji規gui程cheng。當dang然ran，要yao達da到dao最zui佳jia的de可ke測ce試shi性xing
，需xu要yao付fu出chu一yi定ding代dai價jia

，但dan對dui整zheng個ge工gong藝yi流liu程cheng來lai說shuo
，它ta具ju有you一yi係xi列lie的de好hao處chu
，因yin此ci是shi產chan品pin能neng否fou成cheng功gong生sheng產chan的de重zhong要yao前qian提ti。

2、為什麼要發展測試友好技術

過(guo)去(qu)，若(ruo)某(mou)一(yi)產(chan)品(pin)在(zai)上(shang)一(yi)測(ce)試(shi)點(dian)不(bu)能(neng)測(ce)試(shi)，那(na)麼(me)這(zhe)個(ge)問(wen)題(ti)就(jiu)被(bei)簡(jian)單(dan)地(di)推(tui)移(yi)到(dao)直(zhi)一(yi)個(ge)測(ce)試(shi)點(dian)上(shang)去(qu)。如(ru)果(guo)產(chan)品(pin)缺(que)陷(xian)在(zai)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)中(zhong)不(bu)能(neng)發(fa)現(xian)，則(ze)此(ci)缺(que)陷(xian)的(de)識(shi)別(bie)與(yu)診(zhen)斷(duan)也(ye)會(hui)簡(jian)單(dan)地(di)被(bei)推(tui)移(yi)到(dao)功(gong)能(neng)和(he)係(xi)統(tong)測(ce)試(shi)中(zhong)去(qu)。

相(xiang)反(fan)地(di)，今(jin)天(tian)人(ren)們(men)試(shi)圖(tu)盡(jin)可(ke)能(neng)提(ti)前(qian)發(fa)現(xian)缺(que)陷(xian)，它(ta)的(de)好(hao)處(chu)不(bu)僅(jin)僅(jin)是(shi)成(cheng)本(ben)低(di)

，更(geng)重(zhong)要(yao)的(de)是(shi)今(jin)天(tian)的(de)產(chan)品(pin)非(fei)常(chang)複(fu)雜(za)，某(mou)些(xie)製(zhi)造(zao)缺(que)陷(xian)在(zai)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)中(zhong)可(ke)能(neng)根(gen)本(ben)檢(jian)查(zha)不(bu)出(chu)來(lai)。例(li)如(ru)某(mou)些(xie)要(yao)預(yu)先(xian)裝(zhuang)軟(ruan)件(jian)或(huo)編(bian)程(cheng)的(de)元(yuan)件(jian)，就(jiu)存(cun)在(zai)這(zhe)樣(yang)的(de)問(wen)題(ti)。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable Devices係統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研製開發階段就計劃好，而測試係統也必須掌握這種編程。

測(ce)試(shi)友(you)好(hao)的(de)電(dian)路(lu)設(she)計(ji)要(yao)費(fei)一(yi)些(xie)錢(qian)，然(ran)而(er)

，測(ce)試(shi)困(kun)難(nan)的(de)電(dian)路(lu)設(she)計(ji)費(fei)的(de)錢(qian)會(hui)更(geng)多(duo)。測(ce)試(shi)本(ben)身(shen)是(shi)有(you)成(cheng)本(ben)的(de)，測(ce)試(shi)成(cheng)本(ben)隨(sui)著(zhe)測(ce)試(shi)級(ji)數(shu)的(de)增(zeng)加(jia)而(er)加(jia)大(da)；從(cong)在(zai)線(xian)測(ce)試(shi)到(dao)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)以(yi)及(ji)係(xi)統(tong)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)費(fei)用(yong)越(yue)來(lai)越(yue)大(da)。如(ru)果(guo)跳(tiao)過(guo)其(qi)中(zhong)一(yi)項(xiang)測(ce)試(shi)，所(suo)耗(hao)費(fei)用(yong)甚(shen)至(zhi)會(hui)更(geng)大(da)。一(yi)般(ban)的(de)規(gui)則(ze)是(shi)每(mei)增(zeng)加(jia)一(yi)級(ji)測(ce)試(shi)費(fei)用(yong)的(de)增(zeng)加(jia)係(xi)數(shu)是(shi)10倍。通過測試友好的電路設計，可以及早發現故障
，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。

3、文件資料怎樣影響可測試性

隻(zhi)有(you)充(chong)分(fen)利(li)用(yong)元(yuan)件(jian)開(kai)發(fa)中(zhong)完(wan)整(zheng)的(de)數(shu)據(ju)資(zi)料(liao)，才(cai)有(you)可(ke)能(neng)編(bian)製(zhi)出(chu)能(neng)全(quan)麵(mian)發(fa)現(xian)故(gu)障(zhang)的(de)測(ce)試(shi)程(cheng)序(xu)。在(zai)許(xu)多(duo)情(qing)況(kuang)下(xia)
，開(kai)發(fa)部(bu)門(men)和(he)測(ce)試(shi)部(bu)門(men)之(zhi)間(jian)的(de)密(mi)切(qie)合(he)作(zuo)是(shi)必(bi)要(yao)的(de)。文(wen)件(jian)資(zi)料(liao)對(dui)測(ce)試(shi)工(gong)程(cheng)師(shi)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)，製(zhi)定(ding)測(ce)試(shi)戰(zhan)略(lve)
，有(you)無(wu)可(ke)爭(zheng)議(yi)的(de)影(ying)響(xiang)。

weileraokaiquefawenjianhebushenlejieyuanjiangongnengsuochanshengdewenti，ceshixitongzhizaoshangkeyiyikaoruanjiangongju，zhexiegongjuanzhaosuijiyuanzezidongchanshengceshimoshi，huozheyikaofeishiliangxiangbi，feishiliangfangfazhinengsuanzuoyizhongquanyidejiejuebanfa。
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測試前的完整的文件資料包括零件表
，電路設計圖數據（主要是CAD數據）以及有關務元件功能的詳細資料（如數據表）。隻有掌握了所有信息，才可能編製測試矢量，定義元件失效樣式或進行一定的預調整。

某(mou)些(xie)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)的(de)數(shu)據(ju)也(ye)是(shi)重(zhong)要(yao)的(de)，例(li)如(ru)那(na)些(xie)為(wei)了(le)檢(jian)查(zha)組(zu)件(jian)的(de)焊(han)接(jie)是(shi)否(fou)良(liang)好(hao)及(ji)定(ding)位(wei)是(shi)否(fou)所(suo)需(xu)要(yao)的(de)數(shu)據(ju)。最(zui)後(hou)
，對(dui)於(yu)可(ke)編(bian)程(cheng)的(de)元(yuan)件(jian)
，如(ru)快(kuai)閃(shan)存(cun)儲(chu)器(qi)，PLD、FPGA等deng，如ru果guo不bu是shi在zai最zui後hou安an裝zhuang時shi才cai編bian程cheng
，是shi在zai測ce試shi係xi統tong上shang就jiu應ying編bian好hao程cheng序xu的de話hua，也ye必bi須xu知zhi道dao各ge自zi的de編bian程cheng數shu據ju。快kuai閃shan元yuan件jian的de編bian程cheng數shu據ju應ying完wan整zheng無wu缺que。如ru快kuai閃shan芯xin片pian含han16Mbit的數據，就應該可以用到16Mbit，這樣可以防止誤解和避免地址衝突。例如，如果用一個4Mbit存儲器向一個元件僅僅提供300Kbit數據，就可能出現這種情況。當然數據應準備成流行的標準格式，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S記錄結構等。大多數測試係統，隻要能夠對快閃或ISP元yuan件jian進jin行xing編bian程cheng
，是shi可ke以yi解jie讀du這zhe些xie格ge式shi的de。前qian麵mian所suo提ti到dao的de許xu多duo信xin息xi

，其qi中zhong許xu多duo也ye是shi元yuan件jian製zhi造zao所suo必bi須xu的de。當dang然ran，在zai可ke製zhi造zao性xing和he可ke測ce試shi性xing之zhi間jian應ying明ming確que區qu別bie
，因yin為wei這zhe是shi完wan全quan不bu同tong的de概gai念nian，從cong而er構gou成cheng不bu同tong的de前qian提ti。

4、良好的可測試性的機械接觸條件

如(ru)果(guo)不(bu)考(kao)慮(lv)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)的(de)基(ji)本(ben)規(gui)則(ze)，即(ji)使(shi)在(zai)電(dian)氣(qi)方(fang)麵(mian)具(ju)有(you)非(fei)常(chang)良(liang)好(hao)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)的(de)電(dian)路(lu)
，也(ye)可(ke)能(neng)難(nan)以(yi)測(ce)試(shi)。許(xu)多(duo)因(yin)素(su)會(hui)限(xian)製(zhi)電(dian)氣(qi)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)。如(ru)果(guo)測(ce)試(shi)點(dian)不(bu)夠(gou)或(huo)太(tai)小(xiao)，探(tan)針(zhen)床(chuang)適(shi)配(pei)器(qi)就(jiu)難(nan)以(yi)接(jie)觸(chu)到(dao)電(dian)路(lu)的(de)每(mei)個(ge)節(jie)點(dian)。如(ru)果(guo)測(ce)試(shi)點(dian)位(wei)置(zhi)誤(wu)差(cha)和(he)尺(chi)寸(cun)誤(wu)差(cha)太(tai)大(da)，就(jiu)會(hui)產(chan)生(sheng)測(ce)試(shi)重(zhong)複(fu)性(xing)不(bu)好(hao)的(de)問(wen)題(ti)。在(zai)使(shi)用(yong)探(tan)針(zhen)床(chuang)配(pei)器(qi)時(shi)，應(ying)留(liu)意(yi)一(yi)係(xi)列(lie)有(you)關(guan)套(tao)牢(lao)孔(kong)與(yu)測(ce)試(shi)點(dian)的(de)大(da)小(xiao)和(he)定(ding)位(wei)的(de)建(jian)議(yi)

5
、最佳可測試性的電氣前提條件

電(dian)氣(qi)前(qian)提(ti)條(tiao)件(jian)對(dui)良(liang)好(hao)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)，和(he)機(ji)械(xie)接(jie)觸(chu)條(tiao)件(jian)一(yi)樣(yang)重(zhong)要(yao)，兩(liang)者(zhe)缺(que)一(yi)不(bu)可(ke)。一(yi)個(ge)門(men)電(dian)路(lu)不(bu)能(neng)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)，原(yuan)因(yin)可(ke)能(neng)是(shi)無(wu)法(fa)通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)點(dian)接(jie)觸(chu)到(dao)啟(qi)動(dong)輸(shu)入(ru)端(duan)，也(ye)可(ke)能(neng)是(shi)啟(qi)動(dong)輸(shu)入(ru)端(duan)處(chu)在(zai)封(feng)裝(zhuang)殼(ke)內(nei)
，外(wai)部(bu)無(wu)法(fa)接(jie)觸(chu)，在(zai)原(yuan)則(ze)上(shang)這(zhe)兩(liang)情(qing)況(kuang)同(tong)樣(yang)都(dou)是(shi)不(bu)好(hao)的(de)，都(dou)使(shi)測(ce)試(shi)無(wu)法(fa)進(jin)行(xing)。在(zai)設(she)計(ji)電(dian)路(lu)時(shi)應(ying)該(gai)注(zhu)意(yi)，凡(fan)是(shi)要(yao)用(yong)在(zai)線(xian)測(ce)試(shi)法(fa)檢(jian)測(ce)的(de)元(yuan)件(jian)，都(dou)應(ying)該(gai)具(ju)備(bei)某(mou)種(zhong)機(ji)理(li)，使(shi)各(ge)個(ge)元(yuan)件(jian)能(neng)夠(gou)在(zai)電(dian)氣(qi)上(shang)絕(jue)緣(yuan)起(qi)來(lai)。這(zhe)種(zhong)機(ji)理(li)可(ke)以(yi)借(jie)助(zhu)於(yu)禁(jin)止(zhi)輸(shu)入(ru)端(duan)來(lai)實(shi)現(xian)，它(ta)可(ke)以(yi)將(jiang)元(yuan)件(jian)的(de)輸(shu)出(chu)端(duan)控(kong)製(zhi)在(zai)靜(jing)態(tai)的(de)高(gao)歐(ou)姆(mu)狀(zhuang)態(tai)。

雖然幾乎所有的測試係統都能夠逆驅動（Backdriving）方式將某一節點的狀態帶到任意狀態

，但是所涉及的節點最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節點帶到高歐姆狀態
，然後再“平緩地”加上相應的電平。

同樣，節拍發生器總是通過啟動引線，門電路或插接電橋從振蕩器後麵直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100歐ou姆mu的de電dian阻zu與yu電dian路lu連lian接jie。每mei個ge元yuan件jian應ying有you自zi己ji的de啟qi動dong
，複fu位wei或huo控kong製zhi引yin線xian腳jiao。必bi須xu避bi免mian許xu多duo元yuan件jian的de啟qi動dong輸shu入ru端duan共gong用yong一yi個ge電dian阻zu與yu電dian路lu相xiang連lian。這zhe條tiao規gui則ze對dui於yuASIC元yuan件jian也ye適shi用yong
，這zhe些xie元yuan件jian也ye應ying有you一yi個ge引yin線xian腳jiao，通tong過guo它ta，可ke將jiang輸shu出chu端duan帶dai到dao高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。如ru果guo元yuan件jian在zai接jie通tong工gong作zuo電dian壓ya時shi可ke實shi行xing複fu位wei，這zhe對dui於yu由you測ce試shi器qi來lai引yin發fa複fu位wei也ye是shi非fei常chang有you幫bang助zhu的de。在zai這zhe種zhong情qing況kuang下xia，元yuan件jian在zai測ce試shi前qian就jiu可ke以yi簡jian單dan地di置zhi於yu規gui定ding的de狀zhuang態tai。

不(bu)用(yong)的(de)元(yuan)件(jian)引(yin)線(xian)腳(jiao)同(tong)樣(yang)也(ye)應(ying)該(gai)是(shi)可(ke)接(jie)觸(chu)的(de)，因(yin)為(wei)在(zai)這(zhe)些(xie)地(di)方(fang)未(wei)發(fa)現(xian)的(de)短(duan)路(lu)也(ye)可(ke)能(neng)造(zao)成(cheng)元(yuan)件(jian)故(gu)障(zhang)。此(ci)外(wai)，不(bu)用(yong)的(de)門(men)電(dian)路(lu)往(wang)往(wang)在(zai)以(yi)後(hou)會(hui)被(bei)利(li)用(yong)於(yu)設(she)計(ji)改(gai)進(jin)
，它(ta)們(men)可(ke)能(neng)會(hui)改(gai)接(jie)到(dao)電(dian)路(lu)中(zhong)來(lai)。所(suo)以(yi)同(tong)樣(yang)重(zhong)要(yao)的(de)是(shi)，它(ta)們(men)從(cong)一(yi)開(kai)始(shi)就(jiu)應(ying)經(jing)過(guo)測(ce)試(shi)，以(yi)保(bao)證(zheng)其(qi)工(gong)件(jian)可(ke)靠(kao)。