C2000內置比較器誤差來源及校正方法--F28004x, F2807x, F2837x
發布時間:2020-10-04 責任編輯:wenwei
【導讀】C2000係列芯片在數字電源和電機控製中有著廣泛的應用,在這些應用中,過流過壓保護是必不可少的。TI 的Picollo係列芯片從F2802x開始,就已經集成了帶DAC的片內比較器,通過DAC設定閾值,與采樣信號分別送到片內比較器的正負輸入端做比較,生成保護信號給到PWM模塊封鎖PWM輸出,從而實現過流過壓保護,響應速度快,無需額外再加比較器和基準電壓。
C2000係列芯片的內置比較器主要可以分為如下兩類:

不管是以上哪種類型的比較器,其輸入正端都是直接連到ADC采樣口(這個口用來采樣需要監控的信息比如電壓或電流),輸入負端則可以選擇連到內部的DAC輸出或者另一個ADC采樣口。本文將以比較器負端連到內部DAC輸出為例(這也是最常見的一種用法),介紹內部比較器可能的誤差來源及其矯正方法。
誤差來源:
1. static offset error,靜態失調誤差。
2. 比較器滯環
3. ADC基準和比較器內部DAC基準差異。
一、static offset error靜態失調誤差
現在假設我們希望的比較閾值為1.5V,當比較器正端輸入電壓大於1.5V時,比較器輸出為1(高電平);輸入電壓小於1.5V時,比較器輸出0(低電平)。如果內部DAC的基準為3V,那麼我們需要把DACVAL設定為2048使得DAC輸出1.5V。在上麵描述的這種情況下有兩個地方會引入誤差,一個是內部DAC的誤差(offset error),另一個是比較器的誤差(input referred offset error),這兩個誤差總稱為static offset error,靜態失調誤差。
對於F28004x, F2807x,F2837x係列芯片,其規格書上都有static offset error這個參數,為±25mV。也就是說,雖然理論上DACVAL=2048可以得到1.5V的閾值,但是因為static offset error,比較器發生翻轉時負端的電壓可能在1.475V到1.525V之(zhi)間(jian),而(er)這(zhe)個(ge)值(zhi)是(shi)多(duo)少(shao)你(ni)並(bing)不(bu)知(zhi)道(dao),所(suo)以(yi)就(jiu)需(xu)要(yao)校(xiao)準(zhun)。校(xiao)準(zhun)方(fang)法(fa)就(jiu)是(shi),在(zai)比(bi)較(jiao)器(qi)正(zheng)端(duan)接(jie)上(shang)一(yi)個(ge)你(ni)需(xu)要(yao)的(de)閾(yu)值(zhi)電(dian)平(ping),在(zai)關(guan)掉(diao)內(nei)部(bu)比(bi)較(jiao)器(qi)滯(zhi)環(huan)的(de)條(tiao)件(jian)下(xia),讓(rang)比(bi)較(jiao)器(qi)的(de)DACVAL從0逐漸增大到4095,再逐漸減小到0,這樣比較器輸出會有兩次翻轉,將這兩次翻轉時的DACVAL的值作平均,就是校正後的閾值電壓對應的DACVAL的值。
如果不用內部的DAC生成比較閾值,比較器的正端和負端都接外部信號的話,那麼就隻需要考慮比較器的誤差了。
二、比較器滯環
C2000比較器的滯環是可以設定的,COMPHYSCTL的COMPHYS位可以設定滯環的環寬,當環寬設定為0時也就意味著沒有滯環。注意在規格書中,滯環的單位是LSB,所以它和CMPSS模塊內部的DAC的參考有關。如果內部DAC的參考電壓是3V,1LSB對應3V/4096=0.7mV。以F28004x,F2807x, F2837x為例,其滯環可以在12LSB, 24LSB, 36LSB, 48LSB中選擇。
需要指出的是,加入滯環後,比較器從0翻轉到1的閾值依然是之前校準過的值,而不會變成(校準過的值+1/2*滯環寬度),而從1翻轉回0的閾值則會變成(校準過的值-滯環寬度),如下圖所示:

三、ADC基準和比較器內部DAC基準的差異
在實際係統中,除了用比較器做硬件保護,通過AD采樣來做軟件保護也很常見。對於同一個電壓或者電流信號,在考慮了前述靜態失調誤差和滯環後,有時候我們會發現ADC采樣得到的值根本沒到比較器DAC輸出的閾值,但是比較器依然翻轉了,這其中甚至會差到200個LSB。這是因為芯片ADC的基準電壓和比較器內部DAC的基準電壓不同導致的。
以F28004x,F2807x, F2837x為例,比較器內部DAC的基準默認來自於VDDA,可以配置成VDAC,而ADC的基準來自於VREFHI,VDDA默認供電是3V,而我們常用的內部ADC基準VREFHI是3.3V,這樣,如果我們的比較器DACVAL設定為2048,那麼比較器會在1.5V翻轉,而此時ADC采樣的值隻有1.5V/3.3V*4096=1862。這就是因為ADC基準和比較器內部DAC基ji準zhun的de不bu同tong帶dai來lai的de差cha異yi,對dui於yu既ji需xu要yao做zuo硬ying件jian保bao護hu,又you需xu要yao做zuo軟ruan件jian保bao護hu的de信xin號hao,這zhe一yi點dian需xu要yao特te別bie注zhu意yi。最zui簡jian便bian的de解jie決jue辦ban法fa就jiu是shi,將jiang比bi較jiao器qi內nei部bu的deDAC基準配置為VDAC,同時將VDAC連到VREFHI上,使得兩者的基準一致。
結論
本文以F28004x,F2807x,F2837x芯(xin)片(pian)為(wei)例(li),介(jie)紹(shao)了(le)內(nei)置(zhi)比(bi)較(jiao)器(qi)的(de)誤(wu)差(cha)來(lai)源(yuan)及(ji)校(xiao)正(zheng)方(fang)法(fa),同(tong)時(shi)糾(jiu)正(zheng)了(le)比(bi)較(jiao)器(qi)滯(zhi)環(huan)的(de)錯(cuo)誤(wu)理(li)解(jie)。對(dui)於(yu)同(tong)一(yi)個(ge)信(xin)號(hao)既(ji)需(xu)要(yao)軟(ruan)件(jian)保(bao)護(hu)又(you)需(xu)要(yao)硬(ying)件(jian)保(bao)護(hu)的(de)係(xi)統(tong),我(wo)們(men)指(zhi)出(chu)了(le)導(dao)致(zhi)軟(ruan)硬(ying)件(jian)保(bao)護(hu)閾(yu)值(zhi)可(ke)能(neng)出(chu)現(xian)偏(pian)差(cha)的(de)原(yuan)因(yin),同(tong)時(shi)給(gei)出(chu)了(le)解(jie)決(jue)辦(ban)法(fa)。正(zheng)確(que)使(shi)用(yong)C2000芯片內部比較器可以實現快速軟硬件保護,提高係統整體可靠性,同時無需外部基準和比較器,節省PCB空間,是一個非常實用的模塊。
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