常用電子元器件是否損壞的測試方法
發布時間:2018-11-21 責任編輯:xueqi

在電路中也有身體強弱之分,電子元器件抵抗能力排行榜如下:
電阻、電感,電容、半導體器件(包括二極管、三極管、場管、集成電路),也就是說,在同樣的工作條件下,半導體器件損壞機率最大。
所以我們查找故障元件時要優先檢查二極管、三極管、場管、集成電路等,一般半導體器件損壞時以擊穿為多見,萬用表二極管蜂鳴檔測這些器件的任意兩腳最低也應有一個PN結的阻值500左右,若是蜂鳴八成是壞了,可拆下再測以確認。
我們都知道,出頭的椽子先爛,首長的警衛員要做好隨時犧牲的準備,這說明工作崗位決定了危險程度。
在電路中,工作在高電壓、大電流、大功率狀態下的元件無疑承受的壓力也大,損壞的可能性大,同時也是電路的關鍵元件、功能性元件。
凡在大電流的地方發熱就大(焦耳楞次定律——熱量與電流的平方成正比),suoyifanshijiayousanrepiandeyuanjiandoushiyisunjian。dagonglvdedianzuyeshiyisunjian。dagonglvdedianzuzenmenengkanchulai?hetadezuzhiwuguan,zhihetadetijiyouguan,tijiyueda,gonglvyueda。zaidianluzhong,baoxiansi、保險電阻是最不保險的元件,首先因為它的熔點低,容易斷,又因為它是保別人的險,衝到第一線,當警衛員,所以壞時先壞。
元件損壞的方式,有過壓損壞、過流損壞,當然還有機械損壞。過壓損壞如雷擊,擊穿橋式整流管。過流損壞如顯示器行管熱擊穿。
過壓損壞的元件外觀看不出明顯的變化,隻是參數全變了。過流損壞的元件表麵溫度很高,有裂紋、變色、小坑等明顯變化。嚴重時元件周圍的線路板變黃、變黑.

常用電子元器件在外表看上去無異常時可以用數字萬用表做一些簡單的測試。
電阻
這個很簡單,測試阻值對不對。
二極管
用數字萬用表測試PN結的壓降,可與同型號的完好的二極管做對比。
三極管
不管是N管還是P管可以用數字萬用表測量測試兩個PN結是否正常。
場效應管
測試場效應管的體內二極管的PN結是否正常,測試GD,GS是否有短路。
電容
無極性電容,擊穿短路或脫焊,漏電嚴重或電阻效應。
電解電容的實效特性是:擊穿短路,漏電增大,容量變小或斷路。
電感
實效特性為:斷線,脫焊
芯片
集成電路內部結構複雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反fan向xiang電dian阻zu,總zong能neng找zhao到dao其qi中zhong一yi隻zhi或huo幾ji隻zhi引yin腳jiao阻zu值zhi異yi常chang。對dui熱re穩wen定ding性xing差cha的de,可ke以yi在zai設she備bei工gong作zuo時shi,用yong無wu水shui酒jiu精jing冷leng卻que被bei懷huai疑yi的de集ji成cheng電dian路lu,如ru果guo故gu障zhang發fa生sheng時shi間jian推tui遲chi或huo不bu再zai發fa生sheng故gu障zhang,即ji可ke判pan定ding。通tong常chang隻zhi能neng更geng換huan新xin集ji成cheng電dian路lu來lai排pai除chu。
無(wu)論(lun)是(shi)自(zi)然(ran)損(sun)耗(hao)所(suo)出(chu)現(xian)的(de)故(gu)障(zhang),還(hai)是(shi)人(ren)為(wei)損(sun)壞(huai)所(suo)出(chu)現(xian)的(de)故(gu)障(zhang),一(yi)般(ban)可(ke)歸(gui)結(jie)為(wei)電(dian)路(lu)接(jie)點(dian)開(kai)路(lu),電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)損(sun)壞(huai)和(he)軟(ruan)件(jian)故(gu)障(zhang)三(san)種(zhong)故(gu)障(zhang)。接(jie)點(dian)開(kai)路(lu),如(ru)果(guo)是(shi)導(dao)線(xian)的(de)折(zhe)斷(duan),撥(bo)插(cha)件(jian)的(de)斷(duan)開(kai),接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang)等(deng),檢(jian)修(xiu)起(qi)來(lai)一(yi)般(ban)比(bi)較(jiao)容(rong)易(yi)。而(er)電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)的(de)損(sun)壞(huai),(除明顯的燒壞,發熱外),yibanhennanpingguanchayuanfaxian,zaixuduoqingkuangxia,bixujiezhuyiqicainengjiancepanduan,yinciduiyujishurenyuanlaishuo,shouxianbixulejiegezhongqijianshixiaodetedian,zheduiyujianxiudianluguzhang,tigaojianxiuxiaolvshijiweizhongyaode。
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
- 2026藍牙亞洲大會暨展覽在深啟幕
- 維智捷發布中國願景
- 2秒啟動係統 • 資源受限下HMI最優解,米爾RK3506開發板× LVGL Demo演示
- H橋降壓-升壓電路中的交替控製與帶寬優化
- Tektronix 助力二維材料器件與芯片研究與創新
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall



