【經驗分享】避免電路中的閂鎖效應——3個超實用的方法
發布時間:2019-07-01 責任編輯:lina
【導讀】 閂鎖效應 (Latch Up) 是在器件的電源引腳和地之間產生低阻抗路徑的條件。這種情況將由觸發事件(電流注入或過電壓)引起,但一旦觸發,即使觸發條件不再存在,低阻抗路徑仍然存在。

閂鎖效應 (Latch Up) 是在器件的電源引腳和地之間產生低阻抗路徑的條件。這種情況將由觸發事件(電流注入或過電壓)引(yin)起(qi),但(dan)一(yi)旦(dan)觸(chu)發(fa),即(ji)使(shi)觸(chu)發(fa)條(tiao)件(jian)不(bu)再(zai)存(cun)在(zai),低(di)阻(zu)抗(kang)路(lu)徑(jing)仍(reng)然(ran)存(cun)在(zai)。這(zhe)種(zhong)低(di)阻(zu)抗(kang)路(lu)徑(jing)可(ke)能(neng)會(hui)由(you)於(yu)過(guo)大(da)的(de)電(dian)流(liu)水(shui)平(ping)而(er)導(dao)致(zhi)係(xi)統(tong)紊(wen)流(liu)或(huo)災(zai)難(nan)性(xing)損(sun)壞(huai)。在(zai)設(she)計(ji)電(dian)路(lu)應(ying)用(yong)時(shi),需(xu)要(yao)確(que)保(bao)應(ying)用(yong)於(yu)器(qi)件(jian)的(de)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流(liu)水(shui)平(ping)符(fu)合(he)絕(jue)對(dui)最(zui)大(da)額(e)定(ding)值(zhi)要(yao)求(qiu)。
在電路設計時, 可以考慮以下建議來防止閂鎖問題。
1. 如果由於上電排序而發生閂鎖,可以利用二極管與VDD串聯。
如果任何時候器件的數字輸入或輸出都超過VDD,可以在VDD串聯二極管(如下圖使用1N914)來阻止SCR觸發和隨後的閂鎖產生。這是因為二極管能夠防止寄生橫向PNP晶體管的基極電流從VDD引腳流出,從而防止SCR觸發。

2. 將肖特基二極管添加到DGND(數字地)可防止電壓不足
如果器件的數字輸入和輸出隨時低於DGND,那麼從這些輸入或輸出連接到DGND的肖特基二極管將有效地將負偏移鉗位在-0.3V至-0.4V之間。 這可以防止寄生NPN晶體管的發射極與基極結導通,並且還可以防止SCR觸發。

3. 在DGND和AGND (模擬地) 之間連接肖特基二極管
如果DGND電位偶爾會超過AGND 0.3V或更多,則可以在器件兩個引腳之間放置肖特基二極管來阻止相關寄生NPN晶體管的導通。 這提供了額外的防止閂鎖的保護。 此外,前麵提到的反向並聯連接的額外二極管可以在另一個方向上將DGND限製到AGND,這樣就大大減少了數字噪聲被注入器件的可能性。

特別推薦
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
技術文章更多>>
- 一秒檢測,成本降至萬分之一,光引科技把幾十萬的台式光譜儀“搬”到了手腕上
- AI服務器電源機櫃Power Rack HVDC MW級測試方案
- 突破工藝邊界,奎芯科技LPDDR5X IP矽驗證通過,速率達9600Mbps
- 通過直接、準確、自動測量超低範圍的氯殘留來推動反滲透膜保護
- 從技術研發到規模量產:恩智浦第三代成像雷達平台,賦能下一代自動駕駛!
技術白皮書下載更多>>
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索






