第九講 示波器基礎之電源噪聲測試
發布時間:2010-01-19 來源:美國力科公司深圳代表處
中心議題:
在電源噪聲測試中,通常有三個問題導致測量不準確:
1.示波器的量化誤差;
2.使用衰減因子大的探頭測量小電壓;
3.探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大;
示波器存在量化誤差。實時示波器的ADC為8位,把模擬信號轉化為2的8次方(即256個)量化的級別,如果顯示的波形隻占屏幕很小一部分,則增大了量化的間隔,減小了精度。準確的測量需要調節示波器的垂直刻度(必要時使用可變增益),盡量讓波形占滿屏幕,充分利用ADC的垂直動態範圍。圖一中藍色波形信號(C3)的垂直刻度是紅色波形(C2)四分之一,對兩個波形的上升沿進行放大(F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)),然後對放大的波形作長餘輝顯示,可以看到,右上部分的波形F1有較多的階梯(即量化級別),而右下部分波形F2的階梯較少(即量化級別更少)。如果對C2和C3兩個波形測量一些垂直或水平參數,可以發現占滿屏幕的信號C2的測量參數統計值的標準偏差小於後者的。說明了前者測量結果的一致性和準確性。
tongchangceliangdianyuanzaosheng,shiyongyouyuanhuozhewuyuantantou,tancemouxinpiandedianyuanyinjiaohediyinjiao,ranhoushiboqishezhiweichangyuhuimoshi,zuihouyonglianggeshuipingyoubiaolaiceliangdianyuanzaoshengdefengfengzhi。zhezhongfangfayouyigewentishi,changguidewuyuantantouhuoyouyuantantou,qishuaijianyinziwei10,和示波器連接後,垂直刻度的最小檔位為20mV,在不使用DSP濾波算法時,探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例,如果按5%來算,其允許的電源噪聲為90mV,探頭的噪聲已經接近待測試信號的1/3,所以,用10倍衰減的探頭是無法準確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實際測試1.8V噪聲時,垂直刻度通常為5-10mV/div之間。
另外,探頭的GND和信號兩個探測點的距離也非常重要,當兩點相距較遠,會有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中(如圖二所示),示波器觀察的波形包括了其他信號分量,導致錯誤的測試結果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點間距,減小環路麵積。
對於小電源的電壓測試,我們推薦衰減因子為1的無源傳輸線探頭。使用這類探頭時,示波器的最小刻度可達2mV/div,不過其動態範圍有限,偏移的可調範圍限製在+/-750mV之間,所以,在測量常見的1.5V、1.8V電源時,需要隔直電路(DC-Block)後再輸入到示波器。

如圖三為力科PP066探(tan)頭(tou),該(gai)探(tan)頭(tou)的(de)地(di)與(yu)信(xin)號(hao)的(de)間(jian)距(ju)可(ke)調(tiao)節(jie),探(tan)頭(tou)的(de)地(di)針(zhen)可(ke)彈(dan)性(xing)收(shou)縮(suo),操(cao)作(zuo)起(qi)來(lai)非(fei)常(chang)方(fang)便(bian)。通(tong)過(guo)同(tong)軸(zhou)電(dian)纜(lan)加(jia)隔(ge)直(zhi)模(mo)塊(kuai)後(hou)連(lian)接(jie)到(dao)示(shi)波(bo)器(qi)通(tong)道(dao)上(shang)。也(ye)可(ke)以(yi)把(ba)同(tong)軸(zhou)電(dian)纜(lan)剝(bo)開(kai),直(zhi)接(jie)把(ba)電(dian)纜(lan)的(de)信(xin)號(hao)和(he)地(di)焊(han)接(jie)到(dao)待(dai)測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)的(de)電(dian)源(yuan)和(he)地(di)上(shang)。在(zai)圖(tu)四(si)中(zhong)把(ba)SMA接頭的同軸電纜的一段剝開,焊接到了電腦主板的DDR2供電的1.8V上麵,測量其電源噪聲。
在使用示波器測量電源噪聲時,為了保證測量精度,需要選擇足夠的采樣率和采集時間。
推薦采樣率在500MSa/s以上,這樣奈科斯特頻率為250M,可以測量到250MHz以下的電源噪聲。對於目前最普及的板級電源完整性分析,250M的帶寬已足夠。低於這個頻率的噪聲可以使用陶瓷電容、PCB上緊耦合的電源和地平麵來濾波。而高於這個頻率的隻能在封裝和芯片級的去耦措施來完成了。
波形的采集時間越長,則轉化為頻譜後的頻譜分辨率(即delta f)越小。通常我們的開關電源工作在10KHz以上,如果頻譜分辨率要達到100Hz的話,至少需要采集10ms長的波形,在500MSa/s采樣率時,示波器需要500MSa/s * 10 ms = 5M pts的存儲深度。
- 用示波器進行電源噪聲測試
- 測量時讓波形占滿屏幕可有效減少量化誤差
- 需要選擇合適的探頭
- 測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗
在電源噪聲測試中,通常有三個問題導致測量不準確:
1.示波器的量化誤差;
2.使用衰減因子大的探頭測量小電壓;
3.探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大;
示波器存在量化誤差。實時示波器的ADC為8位,把模擬信號轉化為2的8次方(即256個)量化的級別,如果顯示的波形隻占屏幕很小一部分,則增大了量化的間隔,減小了精度。準確的測量需要調節示波器的垂直刻度(必要時使用可變增益),盡量讓波形占滿屏幕,充分利用ADC的垂直動態範圍。圖一中藍色波形信號(C3)的垂直刻度是紅色波形(C2)四分之一,對兩個波形的上升沿進行放大(F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)),然後對放大的波形作長餘輝顯示,可以看到,右上部分的波形F1有較多的階梯(即量化級別),而右下部分波形F2的階梯較少(即量化級別更少)。如果對C2和C3兩個波形測量一些垂直或水平參數,可以發現占滿屏幕的信號C2的測量參數統計值的標準偏差小於後者的。說明了前者測量結果的一致性和準確性。

圖一 示波器ADC的量化誤差
tongchangceliangdianyuanzaosheng,shiyongyouyuanhuozhewuyuantantou,tancemouxinpiandedianyuanyinjiaohediyinjiao,ranhoushiboqishezhiweichangyuhuimoshi,zuihouyonglianggeshuipingyoubiaolaiceliangdianyuanzaoshengdefengfengzhi。zhezhongfangfayouyigewentishi,changguidewuyuantantouhuoyouyuantantou,qishuaijianyinziwei10,和示波器連接後,垂直刻度的最小檔位為20mV,在不使用DSP濾波算法時,探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例,如果按5%來算,其允許的電源噪聲為90mV,探頭的噪聲已經接近待測試信號的1/3,所以,用10倍衰減的探頭是無法準確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實際測試1.8V噪聲時,垂直刻度通常為5-10mV/div之間。
另外,探頭的GND和信號兩個探測點的距離也非常重要,當兩點相距較遠,會有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中(如圖二所示),示波器觀察的波形包括了其他信號分量,導致錯誤的測試結果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點間距,減小環路麵積。



圖四 測量某電腦主板DDR2的1.8V的電源噪聲
[page]在電源噪聲測試中,還存在示波器通道輸入阻抗選擇的爭議。示波器的通道有DC50/DC1M/AC1M三個選項可選(對於高端示波器,可能隻有DC50一個選項)。一些工程師認為應該使用1M歐的輸入阻抗,另一些認為50歐的輸入阻抗更合適。
在測試中我們發現:如果使用1倍衰減的探頭測試,當示波器通道輸入為1M歐時,通常其測量出的電源噪聲大於50歐輸入阻抗的。原因是:高頻電源噪聲從同軸電纜傳輸到示波器通道後,當示波器輸入阻抗是50歐時,同軸電纜的特性阻抗50歐與通道的完全匹配,沒有反射;而通道輸入阻抗為1M歐時,相當於是高阻,根據傳輸線理論,電源噪聲發生反射。這樣,導致1M歐輸入阻抗是測試的電源噪聲高於50歐的。所以,測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗。
在(zai)準(zhun)確(que)測(ce)量(liang)到(dao)電(dian)源(yuan)噪(zao)聲(sheng)的(de)波(bo)形(xing)後(hou),可(ke)以(yi)計(ji)算(suan)出(chu)噪(zao)聲(sheng)的(de)峰(feng)峰(feng)值(zhi),如(ru)果(guo)電(dian)源(yuan)噪(zao)聲(sheng)過(guo)大(da),則(ze)需(xu)要(yao)分(fen)析(xi)噪(zao)聲(sheng)來(lai)自(zi)哪(na)些(xie)頻(pin)率(lv),這(zhe)時(shi),需(xu)要(yao)對(dui)電(dian)源(yuan)噪(zao)聲(sheng)的(de)波(bo)形(xing)進(jin)行(xing)FFT,轉化為頻譜進行分析。FFT中信號時間的長度決定了FFT後的頻譜分辨率,在力科示波器中,支持業界最大的128M個點的FFT,能準確定位電源噪聲來自於哪些頻率。

圖五 測量某3.3V的電源噪聲
如圖五所示為某光模塊的3.3V電源的噪聲。其噪聲的頻譜最高點的頻率為311.6KHz。這個光模塊輸出的1.25Gbps光信號的抖動測試中發現了同樣的312KHz的周期性抖動。在圖六中可以看到,把1.25G串行信號的周期性抖動分解後(Pj breakdown菜單),發現312KHz的周期性抖動為63.7皮pi秒miao,在zai眼yan圖tu中zhong也ye明ming顯xian可ke以yi觀guan察cha到dao抖dou動dong。通tong過guo這zhe個ge案an例li說shuo明ming,電dian源yuan噪zao聲sheng很hen可ke能neng導dao致zhi一yi些xie高gao速su信xin號hao的de眼yan圖tu和he抖dou動dong變bian差cha。對dui電dian源yuan噪zao聲sheng進jin行xing頻pin譜pu分fen析xi,能neng有you效xiao定ding位wei噪zao聲sheng的de來lai源yuan,指zhi引yin調tiao試shi的de方fang向xiang。

圖六:某1.25Gbps信號的抖動和眼圖測試結果
在使用示波器測量電源噪聲時,為了保證測量精度,需要選擇足夠的采樣率和采集時間。
推薦采樣率在500MSa/s以上,這樣奈科斯特頻率為250M,可以測量到250MHz以下的電源噪聲。對於目前最普及的板級電源完整性分析,250M的帶寬已足夠。低於這個頻率的噪聲可以使用陶瓷電容、PCB上緊耦合的電源和地平麵來濾波。而高於這個頻率的隻能在封裝和芯片級的去耦措施來完成了。
波形的采集時間越長,則轉化為頻譜後的頻譜分辨率(即delta f)越小。通常我們的開關電源工作在10KHz以上,如果頻譜分辨率要達到100Hz的話,至少需要采集10ms長的波形,在500MSa/s采樣率時,示波器需要500MSa/s * 10 ms = 5M pts的存儲深度。
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