如今，許多器件都沒有同軸連接器，隻能通過夾具才能在同軸環境下進行測量。然而，要獲得完美的被測件測量結果，需要精確去除夾具效應。盡管可以通過 EM 電磁仿真軟件的建模，或者在基板上構建多個校準標準件來表征和去除夾具效應

，但這些方法非常繁雜而且耗時。

安捷倫最新的 PNA AFR 選件可幫助工程師快速、精確地去除非同軸器件測量環境中的夾具效應：工程師可以使用快捷的五步向導程序完成必要操作
，然後將去嵌入文件保存為多種格式，以便日後在 PNA、PLTS 和先進設計係統軟件中使用。

使用 AFR 選件時，工程師必須首先對夾具輸入端的參考麵進行同軸校準
；然後再測量一個或多個標準件，將其作為夾具的 2 端口直通通道，或者充當開路或短路的半端接夾具。如果隻使用單端口的 AFR
，實施夾具去嵌入的過程可以更快。在被測件安裝之前先對實際夾具的測量作為開路狀態, 之後，AFR 選件會自動表征夾具，並將夾具效應從測量結果中去除。目前的 PLTS 軟件也具備了單端口 AFR 功能。

安捷倫元器件測試事業部營銷經理 Steve Scheppelmann 表示：“最新 AFR 選件的精度可與板上TRL校準相媲美，但實現起來更為輕鬆。對於不熟悉 AFR 的微波工程師，為了精確地校正夾具效應，他們完全不必再去執行複雜的 EM 仿真或構建板上校準套件。而對於熟練使用 AFR 的信號完整性工程師，他們也能受益於 AFR 選件的單端口功能
，從而顯著節省測試時間。”

有關最新 AFR 選件的更多信息，請訪問：www.agilent.com/find/pna 和www.agilent.com/find/AFR007。瀏覽圖片，請訪問：www.agilent.com/find/AFR007_images。

 

安捷倫將在 2014 IEEE MTT-S 國際微波會議上展示最新的 AFR 選件以及其他 20 款最新設計和測量解決方案。會議預定於 6月 1 日 至 6 日在美國佛羅裏達州坦帕市舉行，安捷倫位於 1133 展台。安捷倫合作夥伴的展台與安捷倫相鄰，他們將展示的解決方案包括：建模和器件表征，半導體製造
，IC
、晶圓和 PCB 設計、測試和原型製造
，天線測量係統和測試暗室以及定製係統等。此外，安捷倫高頻技術中心研發經理 Robert Shimon 博士將於 6 月 3 日星期二上午 10:05-10:45 在 MicroApps 劇院發表主題演講
，題目是《數字市場如何推動微波技術發展》。而安捷倫元器件測試事業部研發經理 Bob Schaefer 將於 6 月 5 日星期二下午 2:05 在MicroApps 劇院發表 AFR 主題演講
，題目為《最新校準方法提高夾具器件的測量精度》。