一
、概述

 

氣密性封裝腔體內的自由粒子是影響元器件可靠性的重要因素之一，若氣密性封裝的集成電路

、混合電路等的腔體內存在自由粒子，即存在可動多餘物時，當器件處於高速變相運動、juliezhendongshi，zhexieziyoulizihuibuduanpengzhuang。ziyouliziweijinshudengdaodianxingwuzhishi，kenenghuiganraoheyingxiangdianludezhengchanggongzuo
，shidianlushihaoshihuai，yanzhongshizeshidianluwanquanbunengzhengchanggongzuo；即使是非導電性的顆粒，當其足夠大時也可能使電路的內部鍵合絲等發生形變。為此
，許多電路要求篩選時必須做 PIND。為wei了le控kong製zhi電dian路lu封feng裝zhuang腔qiang體ti內nei的de自zi由you粒li子zi的de大da小xiao和he數shu量liang，以yi減jian小xiao粒li子zi對dui電dian路lu可ke靠kao性xing帶dai來lai的de危wei害hai，在zai電dian路lu的de封feng裝zhuang工gong藝yi過guo程cheng中zhong需xu要yao對dui內nei腔qiang內nei的de可ke動dong顆ke粒li和he在zai試shi驗yan或huo使shi用yong中zhong可ke能neng脫tuo落luo下xia來lai成cheng為wei顆ke粒li的de情qing況kuang進jin行xing全quan麵mian的de控kong製zhi。在實際控製中需要根據不同外殼的具體生產情況、不bu同tong的de封feng帽mao工gong藝yi等deng，在zai封feng裝zhuang工gong藝yi過guo程cheng中zhong采cai取qu不bu同tong的de預yu防fang措cuo施shi進jin行xing控kong製zhi。本ben試shi驗yan的de目mu的de在zai於yu檢jian測ce器qi件jian封feng裝zhuang腔qiang體ti內nei存cun在zai的de自zi由you粒li子zi。這zhe是shi一yi種zhong非fei破po壞huai性xing試shi驗yan

，當dang粒li子zi質zhi量liang足zu夠gou大da時shi，通tong過guo它ta們men與yu器qi件jian封feng裝zhuang殼ke體ti碰peng撞zhuang時shi激ji勵li換huan能neng器qi而er被bei檢jian測ce出chu來lai。

 

粒子碰撞噪聲試驗的原理是對有內腔的密封件（如微電路）施(shi)加(jia)適(shi)當(dang)的(de)機(ji)械(xie)衝(chong)擊(ji)應(ying)力(li)，使(shi)黏(nian)附(fu)於(yu)微(wei)電(dian)路(lu)腔(qiang)體(ti)等(deng)密(mi)封(feng)件(jian)內(nei)的(de)多(duo)餘(yu)物(wu)成(cheng)為(wei)可(ke)動(dong)多(duo)餘(yu)物(wu)。同(tong)時(shi)施(shi)加(jia)振(zhen)動(dong)應(ying)力(li)
，使(shi)可(ke)動(dong)多(duo)餘(yu)物(wu)產(chan)生(sheng)振(zhen)動(dong)，振(zhen)動(dong)的(de)多(duo)餘(yu)物(wu)與(yu)腔(qiang)體(ti)壁(bi)撞(zhuang)擊(ji)產(chan)生(sheng)噪(zao)聲(sheng)。通(tong)過(guo)換(huan)能(neng)器(qi)檢(jian)測(ce)噪(zao)聲(sheng)
，判(pan)斷(duan)腔(qiang)內(nei)有(you)無(wu)多(duo)餘(yu)物(wu)。

 

二、試驗標準

 

本試驗是檢測器件封裝腔體內存在的自由粒子。這是一種非破壞性試驗，適用於檢測氣密封器件（有密封腔體的）電子產品，適用於GJB 128方法2052、GJB 548方法2020、GJB 65B 等。這些標準規定的試驗方法基本一致，且都是通過元器件的內腔高度決定振動頻率。除了電磁繼電器，其內部的特殊性（器件內部有動觸點等活動單元）導致它試驗選取的衝擊脈衝與其他元器件不同外，一般電子元器件的衝擊都是 1000g，加速度分兩個條件：條件 A和條件B，條件A加速度為20g，條件B 為10g，主要根據產品的詳細規範或客戶要求進行選取。

 

1.試驗儀器

 

粒子碰撞噪聲檢測（PIND）試驗需如下設備或與之等效的設備：

 

1）一個閾值檢測器

 

它能檢測出比相對於係統“地”的超過預置閾值峰值為20mV±1mV的粒子噪聲電壓。

 

2）振動裝置和驅動裝置

 

它們在下述條件下可對被試器件（DUT）提供基本為正弦的運動：

 

（1）條件A—在40～250Hz時峰值為196m/s2。

（2）條件B—頻率大於等於60Hz時峰值為98m/s2。

 

3）PIND換能器

 

其峰值靈敏度應在 150～160kHz 範圍內某個頻率上，以 1V/0.1μPa 要求校準（應以1V/0.1μPa對應-77.5dB±3dB的要求校準）。

 

4）靈敏度檢測裝置（STU）

 

用來定期評定 PIND 係統的性能。STU 應包括一個其容差與 PIND 換能器容差相同的換能器

，以及一個能以250×（1±20%）μV 的脈衝激勵換能器的電路。當此換能器以黏附劑與PIND換能器相耦合時，STU應能在示波器上產生一個峰值約為20mV的脈衝。

按鈕式開關應為無機械振動
、動作快、金觸點的微動開關。

 

電阻公差為5%，且為無感電阻器。

 

電源采用標準幹電池。

 

試驗期間，相互耦合的換能器之間必須同軸。

 

輸出到STU換能器的電壓應為250×（1±20%）μV。

 

圖1 典型的靈敏度試驗裝置

 

5）PIND電子設備

 

該設備的電子線路放大器在 PIND 換能器具有峰值靈敏度的頻率中心值上增益應為60dB±2dB，放大器輸出端的噪聲峰值不得超過10mV。

 

6）黏附劑

 

用於連接DUT與PIND換能器的黏附劑應與STU試驗時一致。

 

7）衝擊裝置或工具

 

該裝置能對DUT施加峰值為 9800m/s2±1960m/s2的衝擊脈衝，主衝擊脈衝延續時間不超過 100μs。若采用了可同時進行衝擊試驗的係統，在施加衝擊脈衝時
，可能使振動受到一個時間不超過 250ms（試驗過程中從施加的最後一個衝擊脈衝開始時刻算起）的中斷或擾動。應在衝擊脈衝幅值的（50±5）%衝擊脈衝點上測量衝擊試驗的時間。

 

2.儀器靈敏度校準

 

除用上述所示的靈敏度檢測裝置（STU）來定期評定 PIND 係統的性能外，還可以用以下方法進行儀器靈敏度校準：將jiang事shi先xian放fang入ru矽gui鋁lv絲si引yin線xian作zuo為wei模mo擬ni粒li子zi的de空kong體ti外wai殼ke耦ou合he在zai振zhen動dong台tai上shang，此ci時shi應ying有you明ming顯xian粒li子zi的de信xin號hao輸shu出chu。將jiang另ling一yi隻zhi同tong樣yang尺chi寸cun但dan其qi內nei部bu沒mei有you任ren何he粒li子zi的de標biao準zhun容rong器qi重zhong複fu上shang述shu試shi驗yan，此ci時shi示shi波bo器qi上shang應ying顯xian示shi出chu一yi條tiao水shui平ping直zhi線xian（除了背景噪聲外無粒子噪聲信號）
，若此時發現有尖峰信號
，應找出具體原因
，並設法排除。

 

3.試驗程序及方法

 

（1）將試驗樣品（微電路等有內腔的密封件）的最平滑、最大的一麵用聲耦合劑黏合在振動台上。

（2）設置試驗程序。

 

① 先施以峰值加速度為（9800±1960）m/s2
，一般選 1000g，延續時間不大於 100μs 的衝擊脈衝
，衝擊3次。

② 再施以頻率為 60～130Hz
，這裏頻率的選擇與器件的內腔高度有關，如表 1所示。峰值加速度為196m/s2或98m/s2的振動，振動時間3s±1s，上述程序循環4次

，再對試驗程序進行全麵的檢查。

 

表1 196m/s2加速度時試驗頻率與內腔有效高度的關係（條件A）

 

（3）試驗判據：在監測中，若由檢測設備指示出除背景噪聲之外的任何噪聲爆發（由衝擊本身引起的除外），都應導致器件拒收。

 

4.試驗篩選

 

除另有規定外，批接收試驗中用於篩選的檢驗批（或子批）檢查，應按條件 A 的要求進行最多5次的100%PIND試驗。不應進行PIND預篩選。在進行的5次試驗中，隻要有一次試驗的失效器件數少於 1%，則認為該批器件通過了試驗。在每次試驗後剔除失效的器件，若第 5 次試驗時，失效器件數仍不小於 1%或 5 次累計失效數超過 25%
，則該批器件應被拒收，並且不允許對其重新進行試驗。

 

三
、對標準的理解

 

benshiyandemudezaiyujianceqijianfengzhuangqiangtineishifoucunzaiziyoulizi，ruoshiyouyuqijianneidegongyijiegouyinqidezaoshengxinhao，zebujinxingpandingde。lizipengzhuangzaoshengshiyandejianyanrenyuanxuyaoyouyidingdeshiyanjinglijijishujilei，yinweikenenghuiyouyixiayixiewentidechuxian。

 

（1）有的有內腔的密封件（如微電路）內(nei)引(yin)線(xian)較(jiao)長(chang)。在(zai)做(zuo)粒(li)子(zi)碰(peng)撞(zhuang)噪(zao)聲(sheng)檢(jian)測(ce)試(shi)驗(yan)時(shi)
，長(chang)引(yin)線(xian)的(de)顫(chan)動(dong)也(ye)有(you)可(ke)能(neng)檢(jian)測(ce)出(chu)噪(zao)聲(sheng)。在(zai)試(shi)驗(yan)前(qian)要(yao)先(xian)大(da)概(gai)了(le)解(jie)一(yi)下(xia)器(qi)件(jian)的(de)內(nei)部(bu)工(gong)藝(yi)結(jie)構(gou)，並(bing)在(zai)試(shi)驗(yan)的(de)過(guo)程(cheng)中(zhong)注(zhu)意(yi)噪(zao)聲(sheng)信(xin)號(hao)的(de)波(bo)形(xing)
，一(yi)般(ban)情(qing)況(kuang)下(xia)
，鍵(jian)合(he)絲(si)晃(huang)動(dong)引(yin)起(qi)的(de)噪(zao)聲(sheng)信(xin)號(hao)波(bo)形(xing)與(yu)粒(li)子(zi)撞(zhuang)擊(ji)產(chan)生(sheng)的(de)噪(zao)聲(sheng)信(xin)號(hao)波(bo)形(xing)是(shi)可(ke)以(yi)區(qu)分(fen)的(de)，改(gai)變(bian)振(zhen)動(dong)頻(pin)率(lv)，噪(zao)聲(sheng)有(you)變(bian)化(hua)時(shi)，其(qi)噪(zao)聲(sheng)往(wang)往(wang)是(shi)由(you)長(chang)引(yin)線(xian)的(de)顫(chan)動(dong)產(chan)生(sheng)的(de)。若(ruo)實(shi)在(zai)區(qu)分(fen)不(bu)了(le)，可(ke)以(yi)再(zai)通(tong)過(guo)其(qi)他(ta)試(shi)驗(yan)進(jin)行(xing)驗(yan)證(zheng)。

 

（2）所有黏附劑應對其傳送的機械能量有較小的衰減係數。衝擊脈衝的峰值加速度
、延續時間和次數應有嚴格控製，否則試驗可能是破壞性的。

 

（3）當有內腔的密封件內有柔軟細長的多餘物（如各種纖維絲）時
，用粒子碰撞噪聲檢測試驗有時可以檢測出多餘物，有時檢測不出，這與多餘物的長短、質量、懸掛方式
、懸掛位置及粒子碰撞噪聲檢測試驗的精度有關。

 

（4）有you時shi，雖sui然ran檢jian測ce結jie果guo顯xian示shi有you多duo餘yu物wu
，實shi際ji打da開kai檢jian查zha，卻que找zhao不bu出chu多duo餘yu物wu。這zhe時shi，應ying仔zai細xi分fen析xi產chan生sheng噪zao聲sheng的de原yuan因yin，並bing用yong試shi驗yan證zheng實shi。如ru有you的de密mi封feng件jian內nei僅jin有you一yi塊kuai印yin製zhi板ban，但dan做zuo粒li子zi碰peng撞zhuang噪zao聲sheng檢jian測ce試shi驗yan時shi
，有you噪zao聲sheng輸shu出chu。實shi際ji上shang這zhe是shi因yin印yin製zhi板ban在zai試shi驗yan中zhong與yu印yin製zhi板ban導dao軌gui碰peng撞zhuang所suo致zhi，固gu定ding好hao印yin製zhi板ban後hou就jiu再zai無wu噪zao聲sheng輸shu出chu。

 

（5）引起噪聲信號的原因還有幾種，如振動台不幹淨

、樣品未固定在振動台上等一些環境因素，要在試驗前進行空測及檢查

，排除這些幹擾因素，以保證試驗結果的準確性。

 

四、PIND試驗技術的發展趨勢

 

粒子碰撞噪聲試驗（PIND）目(mu)的(de)之(zhi)一(yi)是(shi)及(ji)時(shi)消(xiao)除(chu)有(you)粒(li)子(zi)隱(yin)患(huan)的(de)電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)，同(tong)時(shi)通(tong)過(guo)對(dui)失(shi)效(xiao)樣(yang)品(pin)的(de)分(fen)析(xi)

，為(wei)產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)改(gai)進(jin)提(ti)供(gong)有(you)用(yong)信(xin)息(xi)。這(zhe)項(xiang)試(shi)驗(yan)技(ji)術(shu)的(de)發(fa)展(zhan)趨(qu)勢(shi)如(ru)下(xia)：

 

1.粒子的提取技術

 

由you於yu粒li子zi太tai小xiao，所suo以yi，一yi般ban不bu宜yi采cai用yong解jie體ti方fang法fa，目mu前qian國guo內nei的de粒li子zi提ti取qu技ji術shu主zhu要yao是shi采cai用yong手shou工gong的de方fang法fa。即ji選xuan擇ze樣yang品pin合he適shi的de一yi麵mian，將jiang其qi慢man慢man地di銼cuo薄bo，不bu銼cuo通tong。然ran後hou將jiang試shi樣yang清qing洗xi幹gan淨jing，在zai清qing潔jie環huan境jing下xia用yong一yi根gen尖jian針zhen將jiang其qi銼cuo薄bo處chu穿chuan個ge小xiao孔kong，並bing立li即ji在zai該gai孔kong處chu用yong透tou明ming膠jiao紙zhi封feng住zhu。此ci後hou再zai將jiang樣yang品pin放fang在zai振zhen動dong台tai上shang進jin行xing振zhen動dong，直zhi至zhi沒mei有you粒li子zi信xin號hao再zai出chu現xian為wei止zhi。另ling一yi種zhong較jiao為wei快kuai捷jie的de辦ban法fa是shi使shi小xiao孔kong口kou朝chao下xia，用yong手shou輕qing輕qing敲qiao擊ji樣yang品pin的de封feng殼ke，然ran後hou在zai顯xian微wei鏡jing下xia觀guan察cha透tou明ming膠jiao紙zhi上shang有you無wu粒li子zi被bei黏nian牢lao。

 

粒li子zi被bei取qu出chu後hou，可ke在zai電dian子zi掃sao描miao鏡jing顯xian微wei中zhong或huo其qi他ta質zhi譜pu分fen析xi儀yi中zhong進jin行xing成cheng分fen分fen析xi。提ti取qu粒li子zi是shi根gen據ju具ju體ti要yao求qiu而er定ding的de，為wei了le便bian於yu取qu出chu粒li子zi，最zui好hao是shi選xuan擇ze粒li子zi信xin號hao偏pian大da的de試shi樣yang進jin行xing分fen析xi。但dan這zhe種zhong方fang法fa不bu能neng保bao證zheng對dui粒li子zi100%地提取
，所以，未來可在這方麵進行改進。

 

2.通過觀察信號或波形直觀地得到內部粒子的信息

 

通tong過guo技ji術shu的de提ti高gao或huo監jian測ce電dian性xing能neng等deng方fang法fa，直zhi觀guan地di觀guan察cha信xin號hao或huo波bo形xing便bian可ke得de到dao器qi件jian內nei部bu的de粒li子zi形xing態tai。如ru器qi件jian內nei部bu是shi否fou存cun在zai真zhen實shi的de粒li子zi，或huo是shi由you於yu器qi件jian本ben身shen的de工gong藝yi導dao致zhi的de噪zao聲sheng信xin號hao產chan生sheng等deng。若ruo是shi真zhen實shi粒li子zi

，那na麼me粒li子zi的de大da小xiao、材料是什麼等，可以直觀地獲取，減小試驗的錯判和漏判。

 

 

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