中心議題：

• 電阻損壞的特點及檢測方法
• 電解電容損壞的特點及檢測方法
• 半導體器件損壞的特點檢測方法

一．電阻損壞的特點及檢測方法

1.電阻損壞的特點

電dian阻zu是shi電dian器qi設she備bei中zhong數shu量liang最zui多duo的de元yuan件jian，但dan不bu是shi損sun壞huai率lv最zui高gao的de元yuan件jian。電dian阻zu損sun壞huai以yi開kai路lu最zui常chang見jian，阻zu值zhi變bian大da較jiao少shao見jian，阻zu值zhi變bian小xiao十shi分fen少shao見jian。常chang見jian的de有you碳tan膜mo電dian阻zu、金屬膜電阻
、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣
，其損壞的特點一是低阻值（100Ω以下）和高阻值（100kΩ以上）的損壞率較高，中間阻值（如幾百歐到幾十千歐）的極少損壞；二(er)是(shi)低(di)阻(zu)值(zhi)電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)時(shi)往(wang)往(wang)是(shi)燒(shao)焦(jiao)發(fa)黑(hei)，很(hen)容(rong)易(yi)發(fa)現(xian)，而(er)高(gao)阻(zu)值(zhi)電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)時(shi)很(hen)少(shao)有(you)痕(hen)跡(ji)。線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)一(yi)般(ban)用(yong)作(zuo)大(da)電(dian)流(liu)限(xian)流(liu)，阻(zu)值(zhi)不(bu)大(da)。圓(yuan)柱(zhu)形(xing)線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)燒(shao)壞(huai)時(shi)有(you)的(de)會(hui)發(fa)黑(hei)或(huo)表(biao)麵(mian)爆(bao)皮(pi)、liewen，youdemeiyouhenji。shuinidianzushixianraodianzudeyizhong，shaohuaishikenenghuiduanlie，fouzeyemeiyoukejianhenji。baoxiandianzushaohuaishiyoudebiaomianhuizhadiaoyikuaipi，youdeyemeiyoushenmehenji，danjuebuhuishaojiaofahei。

1.電阻的檢測方法

1）檢查萬用表電池

方法如下：將擋位旋鈕依次置於電阻擋R×1和R×10K擋，然後將紅、黑測試筆短接。旋轉歐姆調零電位器，觀察指針是否指向零（MF47型萬用表如R×1擋，指針不能校零，則更換萬用表的1.5V電池。如R×10擋，指針不能校零，更換9V電池。）

2）選擇適當倍率擋

celiangmouyidianzuqidezuzhishi
，yaoyijudianzuqidezuzhizhengquexuanzebeilvdang
，anwanyongbiaoshiyongfangfaguiding，wanyongbiaozhizhenyingzaiquankedudezhongxinbufendushucaijiaozhunque。celiangshidianzuqidezuzhishiwanyongbiaoshangkedudeshuzhiyubeilvdechengji。ruceliangyidianzuqi，suoxuanbeilvweiR×1

，刻度數值為9.4
，該電阻器電阻值為R=9.4×1=9.4。

3）電阻擋調零

在測量電阻之前必須進行電阻擋調零。其方法如檢查電池方法一樣（短接紅黑測試筆），在測量電阻時，每更換一次倍率擋後，都必須重新調零。

2．測量前的準備工作

將兩表筆（不分正負）分(fen)別(bie)與(yu)電(dian)阻(zu)的(de)兩(liang)端(duan)引(yin)腳(jiao)相(xiang)接(jie)即(ji)可(ke)測(ce)出(chu)實(shi)際(ji)電(dian)阻(zu)值(zhi)。為(wei)了(le)提(ti)高(gao)測(ce)量(liang)精(jing)度(du)，根(gen)據(ju)被(bei)測(ce)電(dian)阻(zu)標(biao)稱(cheng)值(zhi)的(de)大(da)小(xiao)來(lai)選(xuan)擇(ze)量(liang)程(cheng)。由(you)於(yu)歐(ou)姆(mu)擋(dang)刻(ke)度(du)的(de)非(fei)線(xian)性(xing)關(guan)係(xi)
，它(ta)的(de)中(zhong)間(jian)一(yi)段(duan)分(fen)度(du)較(jiao)為(wei)精(jing)細(xi)
，因(yin)此(ci)應(ying)使(shi)指(zhi)針(zhen)指(zhi)示(shi)值(zhi)盡(jin)可(ke)能(neng)落(luo)到(dao)刻(ke)度(du)的(de)中(zhong)段(duan)位(wei)置(zhi)，即(ji)全(quan)刻(ke)度(du)起(qi)始(shi)的(de)20%—80%弧度範圍內，以使測量更準確。根據電阻誤差等級不同。讀數與標稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符，超出誤差範圍

，則說明該電阻器變值了。

注意事項： 測試時，特別是在測幾十KΩ以上阻值的電阻時，手不要觸及表筆和電阻的導電部分；被檢測的電阻人電路板中焊下來
，至少要焊開一個引腳，以免電路中的其他元件對測試產生影響

，造成測量誤差；色環電阻的阻值雖然能以色環標誌來確定
，但在使用時最好還是用萬用表測試下其實際阻值。

根據以上特點，在檢查電阻時可有所側重

，快速找出損壞的電阻。

二．電解電容損壞的特點及檢測方法

1.電解電容的損壞特點

電解電容在電器設備中的用量很大，故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現：一是完全失去容量或容量變小；二是輕微或嚴重漏電
；三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有：

（1）看：有的電容損壞時會漏液
，電容下麵的電路板表麵甚至電容外表都會有一層油漬
，這種電容絕對不能再用；有的電容損壞後會鼓起，這種電容也不能繼續使用；
（2）摸：開機後有些漏電嚴重的電解電容會發熱，用手指觸摸時甚至會燙手，這種電容必須更換；
（3）電(dian)解(jie)電(dian)容(rong)內(nei)部(bu)有(you)電(dian)解(jie)液(ye)，長(chang)時(shi)間(jian)烘(hong)烤(kao)會(hui)使(shi)電(dian)解(jie)液(ye)變(bian)幹(gan)
，導(dao)致(zhi)電(dian)容(rong)量(liang)減(jian)小(xiao)，所(suo)以(yi)要(yao)重(zhong)點(dian)檢(jian)查(zha)散(san)熱(re)片(pian)及(ji)大(da)功(gong)率(lv)元(yuan)器(qi)件(jian)附(fu)近(jin)的(de)電(dian)容(rong)

，離(li)其(qi)越(yue)近(jin)
，損(sun)壞(huai)的(de)可(ke)能(neng)性(xing)就(jiu)越(yue)大(da)。
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2.電解電容的檢測方法

因為電解電容的容量比一般固定電容大得多

，所以，測量時
，應針對不同容量選用合適的量程。根據經驗，一般情況下，470nF­—10µF間的電容

，可用R×1k擋測量；10µF—300µF的電容可用R×100擋測量；300 µF以上的電容可用R×1或R×10擋測量。 在zai檢jian測ce電dian解jie電dian容rong器qi時shi
，要yao先xian對dui電dian容rong器qi放fang電dian，特te別bie是shi對dui於yu大da容rong量liang的de電dian解jie電dian容rong器qi，可ke以yi直zhi接jie短duan路lu兩liang個ge引yin腳jiao進jin行xing放fang電dian。然ran後hou萬wan用yong表biao紅hong表biao筆bi接jie負fu極ji
，黑hei表biao筆bi接jie正zheng極ji，在zai剛gang接jie觸chu的de瞬shun間jian，萬wan用yong表biao指zhi針zhen即ji向xiang右you偏pian轉zhuan較jiao大da偏pian度du(對於同一電阻擋，容量越大，擺幅越大)，jiezhezhujianxiangzuohuizhuan，zhidaotingzaimouyiweizhi。cishidezuzhibianshidianjiedianrongdezhengxiangloudianzu，cizhilvedayufanxiangloudianzu。shijishiyongjingyanbiaoming，dianjiedianrongdeloudianzuyibanyingzaijibaikΩ以上，否則，將不能正常工作。在測試中
，若正向
、反向均無充電的現象，即表針不動，則說明容量消失或內部斷路；如果所測阻值很小或為零，說明電容漏電大或已擊穿損壞，不能再使用。

三.半導體器件損壞的特點

1.半導體器件損壞的特點

二、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路，其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現：一是熱穩定性變差，表現為開機時正常，工作一段時間後
，發生軟擊穿
；另一種是PN結的特性變差。

2．半導體器件的檢測方法

用萬用表R×1k測

，各PN結均正常，但上機後不能正常工作，如果用R×10或R×1低量程檔測
，就會發現其PN結正向阻值比正常值大。測量二
、三極管可以用指針萬用表在路測量，較準確的方法是：將萬用表置R×10或R×1檔（一般用R×10檔，不明顯時再用R×1檔）在路測二、三極管的PN結正、反向電阻，如果正向電阻不太大（相對正常值），反向電阻足夠大（相對正向值），表明該PN結正常
，反之就值得懷疑，需焊下後再測。這是因為一般電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百
、幾千歐以上，用萬用表低阻值檔在路測量，可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。

四.集成電路損壞的特點

集成電路內部結構複雜，功能很多，任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種：徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時

，可將其拆下，與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正
、反fan向xiang電dian阻zu，總zong能neng找zhao到dao其qi中zhong一yi隻zhi或huo幾ji隻zhi引yin腳jiao阻zu值zhi異yi常chang。對dui熱re穩wen定ding性xing差cha的de，可ke以yi在zai設she備bei工gong作zuo時shi
，用yong無wu水shui酒jiu精jing冷leng卻que被bei懷huai疑yi的de集ji成cheng電dian路lu，如ru果guo故gu障zhang發fa生sheng時shi間jian推tui遲chi或huo不bu再zai發fa生sheng故gu障zhang
，即ji可ke判pan定ding。通tong常chang隻zhi能neng更geng換huan新xin集ji成cheng電dian路lu來lai排pai除chu。