1測量步驟

 

以下介紹本測量的步驟。此外，主要以圖1所示的方法使用網絡分析器和測量夾具在2個端口上測量S-parameter。

 

1. 校正

使用SOLT (部分SOL) 校正和TRL校正2種方法進行校正。SOLT校正使用本公司生產的Short, Open, Load, Thru線路板校正低頻率側的領域。與此相反，TRL校正使用本公司生產的Thru, Reflect, Line, Match線路板校正高頻率側的領域。此外，校正基準麵是焊盤圖案的端麵。

 

2. 測量

將樣品焊接在線路板上，然後固定在與網絡分析器/阻抗分析器相連接的測量夾具上進行測量。

 

3. 抽取樣品單品的S-parameter數據

所測量的S-parameter數shu據ju雖sui然ran已yi經jing根gen據ju校xiao正zheng和he電dian氣qi長chang修xiu正zheng除chu去qu了le試shi驗yan線xian路lu板ban和he測ce量liang夾jia具ju的de特te性xing，但dan還hai包bao含han通tong孔kong和he焊han盤pan圖tu案an的de特te性xing。因yin此ci，從cong測ce量liang結jie果guo中zhong除chu去qu了le通tong孔kong和he焊han盤pan圖tu案an的de特te性xing
，抽chou取qu樣yang品pin單dan品pin的deS-parameter數據。

 

圖1：S-parameter測量

 

2試驗線路板

 

本測量所使用的試驗線路板如下所示。圖2顯示了焊盤圖案。

 

 

 

圖2：焊盤圖案尺寸

 

3測量裝置

 

本測量所使用的測量裝置如下所示。

 

溫度補償用電容器 ※1,000pF以上的與高誘電型電容器的條件相同。

阻抗分析器: E4991A (Keysight Technologies)

網絡分析器: E5071C/N5225A (Keysight Technologies)

測量夾具: PC・SMA/PC・V (YOKOWO)

 

高誘電型電容器

網絡分析器: E501B/E5071C (Keysight Technologies)

測量夾具: PC・SMA (YOKOWO)

 

4測量條件

 

本測量將測量頻率範圍分為低頻率領域和高頻率領域兩種
，分別采用適合各自領域的測量條件。表1、表2分別表示溫度補償用電容器及高誘電型電容器的測量條件。

 

表1：溫度補償用電容器測量條件

 

※1000pF以上的與高誘電型電容器的條件 (表2) 相同。

 

表2：高誘電型電容器測量條件

 

來源：村田製作所